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标题: SIPMall教你如何应对嵌入式系统的设计挑战--中华矽智网SIPMall极力推荐 [打印本页]

作者: camaii 时间: 2010-9-19 12:09 标题: SIPMall教你如何应对嵌入式系统的设计挑战--中华矽智网SIPMall极力推荐

本帖最后由 yumuzi 于 2010-9-19 15:49 编辑

在复杂的嵌入式设计中，工程师经常会遇到的挑战是如何准确评测系统实际性能。完备的性能监测硬件和软件是快速完成系统评测的关键。在IIC秋季深圳展的技术应用课程上，东莞松山湖集成电路设计服务有限公司高级现场应用工程师进行了一场名为“用性能监测硬件和软件来应对嵌入式系统设计挑战”的主题演讲，为工程师进行应用程序设计、硬件方案选取和系统优化提供了宝贵经验。
最新嵌入式技术的发展趋势之一是在处理器内集成性能监测硬件模块，以实时监测高性能处理器的时机性能，根据性能统计结果找出系统瓶颈，有效优化系统软硬件以提升产品竞争力。

对于集散测控系统的分布式智能测试单元而言，有没有办法检测ADC精度和性能呢？东莞松山湖集成电路设计服务有限公司提供的可视模拟软件(WASP)允许开发工程师快速配置、控制和分析ADC性能。这是一款针对所有微转换器(MicroConverter)产品的通用应用软件，可以对这些不见的模拟性能进行分析，并可提供RMS噪声分析和峰峰值噪声分析。

此外，随着嵌入式技术的发展，对处理器效率和性能监测的要求越来越高。采用机器周期计数器和性能指标寄存器有助于测量系统性能，并提供了一种理解系统行为的有效方法。机器周期计数器可以对应用程序执行期间的内核周期计数，在用户模式或管理员模式下，执行、等待、中断和事件等耗费的周期数均被统计。在嵌入式处理器芯片内嵌性能计数器(指标寄存器)，则有助于精确地捕捉外部存储器组访问数、页错失数、总线流量数和总线转向数。

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