电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛

标题: 能不能谈谈由频率相关信道损耗导致的码间干扰问题？ [打印本页]

作者: shebailu 时间: 2011-3-23 21:39 标题: 能不能谈谈由频率相关信道损耗导致的码间干扰问题？

能不能谈谈由频率相关信道损耗导致的码间干扰问题？

作者: 电子工匠 时间: 2011-3-23 22:00

1# shebailu
更多的标准会涉及信道损耗而造成的码间干扰（ISI）问题，如PCIe-Gen3、
USB3、SATA-Gen3、10GBase-KR，等等。很难用远端的眼图是否闭合来判断信道
传输的误码率问题，所以应用BERTScope误码率测试仪和示波器相结合的仪器去
解决整个信道从发射机到接收机的完整测试的问题。

欢迎光临电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛 (http://bbs.eccn.com/)