| 标题: | 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试 | ||
| 类型: | 技术文档 | 大小: | 201515B |
| 语言: | 中文 | 发布时间: | 2011-04-29 |
| 文档介绍: |  | ||
| LED测试在生产的不同阶段具有不同类型的测试序列，例如设计研发阶段的测试、生产过程中的晶圆级测试、以及封装后的最终测试。尽管LED的测试一般包含电气和光学测量，本文着重探讨电气特征分析，只在适当的位置介绍部分光学测量技术。图1给出了典型二极管的电气I-V曲线。完整的测试应该包含大量 的电压值与对应的电流工作点，但是一般情况下有限的采样点就足以测试出器件的品质因数。 | |||