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标题: 相变存储器:基本原理与测量技术 [打印本页]

作者: porereading    时间: 2012-3-13 19:05     标题: 相变存储器:基本原理与测量技术

标题:相变存储器:基本原理与测量技术
类型:产品说明大小:307320B
语言:中文发布时间:2011-04-29
文档介绍:
相变存储器(可缩略表示为PCM、PRAM或PCRAM)是一种新兴的非易失性计算机存储器技术。它可能在将来代替闪存,因为它不仅比闪存速度快得多,更容易缩小到较小尺寸,而且复原性更好,能够实现一亿次以上的擦写次数。本文将为您介绍相变存储器的基本原理及其最新的测试技术。





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