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标题: 单片机应用编程知识介绍 3 [打印本页]

作者: rise_ming 时间: 2012-3-14 08:27 标题: 单片机应用编程知识介绍 3

11. HOLTEK的数据手册在哪里下载?　　答：如果对HOLTEK的IC感兴趣的话，相应的数据手册可以到网站上　　12. 8位机还能延续多久!
　　答：以现在MCU产品主力还是在8位领域，主要应用于汽车应用、消费性电子、电脑及PC周边、电信与通讯、办公室自动化、工业控制等六大市场，其中车用市场多在欧、美地区，而亚太地区则以消费性电子为主，并以量大低单价为产品主流，目前16位MCU与8位产品，还有相当幅度的价差，新的应用领域也仍在开发，业界预计，至少在2005年前8位的MCU仍是MCU产品的主流。
　　13. 学习ARM及嵌入式系统是否比学习其它一般单片机更有使用前景?对于一个初学者应当具备哪些相关知识?
　　答：一般在8位单片机与ARM方面的嵌入式系统是有层次上的差别，ARM适用于系统复杂度较大的高级产品，如PDA、手机等应用。而8位单片机因架构简单，硬件资源相对较少，适用于一般的工业控制、消费性家电等等。对于一个单片机方面的软件编程初学者，应以HOLTEK系列或8051等8位单片机来做入门练习。而初学者应当具备软件编程相关知识，单片机一般软件编程是以汇编语言为主，各家有各家的语法，但大都以RISC的MCU架构为主，其中 RISC (Reduced Instruction Set Computer) 代表MCU的所有指令。都是利用一些简单的指令组成的，简单的指令代表 MCU 的线路可以尽量做到最佳化，而提高执行速率。另外初学者要具备单片机I/O接口的应用知识，这在于周边应用电路及各种元器件的使用，须配合自己所学的电子学及电路学等。
　　14. 符合44PIN的80系列8位单片机的MCU有哪些?
　　答：符合44PIN的80系列8位单片机有Z8674312FSC、Z86E2112FSC、Z86E2116FSC。
　　15. 请介绍一下MCU的测试方法。
　　答： MCU从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。
　　所谓中测即是WAFER的测试，它会包含产品的功能验证及AC、DC的测试。项目相当繁多，以HOLTEK产品为例最主要的几项如下：
　　 接续性测试：检测每一根I/OPIN内接的保护用二极管是否功能无误。
　　 功能测试：以产品设计者所提供测试资料(TEST PATTERN)灌入IC，检查其结果是否与当时SIMULATION时状态一样。
　　 STANDBY电流测试：测量IC处于HALT模式时即每一个接点(PAD)在1态0态或Z态保持不变时的漏电流是否符合最低之规格。
　　 耗电测试：整颗IC的静态耗电与动态耗电。
　　 输入电压测试：测量每个输入接脚的输入电压反应特性。
　　 输出电压测试：测量每个输出接脚的输出电压位准。
　　 相关频率特性(AC)测试，也是通过外灌一定频率，从I/O口来看输出是否与之匹配。
　　 为了保证IC生产的长期且稳定品质，还会做产品的可靠性测试，这些测试包括ESD测试，LATCH UP测试，温度循环测试，高温贮存测试，湿度贮存测试等。
　　成测则是产品封装好后的测试，即PACKAGE测试。即是所有通过中测的产品封装后的测试，方法主要是机台自动测试，但测试项目仍与WAFER TEST相同。PACKAGE TEST的目的是在确定IC在封装过程中是否有任何损坏。

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