标题:
[转帖]DFT注意事项小结
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作者:
looksky
时间:
2006-2-17 10:21
标题:
[转帖]DFT注意事项小结
为了提高芯片成品率,DFT在ASIC设计中已经越来越流行了,使设计的测试覆盖率尽可能高是我们追求的目标。
在上一个项目中,我们碰到了很多这方面的问题,走了很多弯路,帮经验共享出来给版上的兄弟们。
1.在ATPG测试模式下,一定要确保所有触发器的时钟和异步复位置位来自原始输入端口。这个很重要,很多warning就是这么产生的。所谓在ATPG测试模式,就是测试端口信号值是你所指定的值的情况。以下为要特别注意的情况,我们也犯了里面大多数的错误。
要用测试端口信号旁路内部时钟分频器;
要用测试端口信号旁路门控时钟;
要用测试端口信号旁路内部PLL;
2.在ATPG测试模式下,尽量阻断时钟,异步复位置位到触发器输入端的路径,即信号不可既做时钟又做数据。显然,这容易造成测试覆盖率的降低。但有些情况是不可避免,尽量降低而已:)
3.对多驱动线网来说,确保ATPG测试模式下有且只有一个驱动有效,这样就不会造成总线竞争和浮动。
4.在ATPG测试模式下,让所有扫描链输出端口仅为输出模式。
5.在不同时钟源的FFs之间插入同步Latches,避免扫描移位时出错。这些DFT COMPILER会帮我们自动做到。
6.避免使用时钟异或反向技巧,以免时序问题。
7.作为扫描链的输入端口,尽量选择那种端口信号一进来就直接进入FF的;作为扫描链的输出端口,尽量选择那种端口信号直接从FF出来的。
暂时就这些了,有什么疑问大家欢迎提问,我当时在这里困惑了很久,后来搞通了感觉好明白啊~
想写点DFT的工作原理,但DC的manual里面都有了,也不知道有没必要,估计这种资料别的地方也有吧,不过当时自己真是理解了不少时间啊~~~
作者:
looksky
时间:
2006-2-17 10:21
此帖为跟帖:
1。对于第一点认同,如果没有set_test_hold PATTERN不能生成,所以说应该是必须的。
2。这样做是否还有一个好处,在shift mode时 信号输入时稳定的?而不会随着时钟变化而变化。
3。多驱动网线指得是?我自己认为要尽可能少的干预源代码,这样测试覆盖率才会高,所以第三条没有理解。
4。这个不需要,同时这样做降低测试覆盖率。因为如果是双向的话,要作为PI用(自己理解不一定准确)
7。因为可以hookup所以可能也能达到同样效果!
作者:
HolySaint
时间:
2008-11-30 12:46
7。因为可以hookup所以可能也能达到同样效果!
你的意思时hook到pad上吗?
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