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标题: 芯片验证分析及测试流程优化技术 [打印本页]

作者: wxg1988 时间: 2012-5-27 22:10 标题: 芯片验证分析及测试流程优化技术

以失效分析的数据作为基本数据结构，提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发信息的优化算法，提出了芯片验证分析及测试流程优化技术

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