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标题: 激光二极管模组测试（二） [打印本页]

作者: rise_ming 时间: 2012-7-7 02:08 标题: 激光二极管模组测试（二）

拐点测试/线性度测试
这项测试对图1中所示的驱动电流IF和输出光强度L之间的比例关系进行测试校验。驱动电流IF和输出光强度L之间在额定的工作范围内应为线性关系。如果在测量范围内，两者确实是线性关系，L-IF曲线的一阶导数曲线将是一条近似水平的线段，标记为dL/dIF曲线图。计算一阶导数dL/dIF可以放大光强度－驱动电流曲线中的凸起或拐点。如果一阶导数曲线中有明显的拐点，换言之，即不是很平滑，则表示激光二极管有缺陷。如果工作在拐点对应的驱动电流IF值，输出光强度不再与驱动电流成比例。光强度－驱动电流曲线的二阶导数的最大值可用以计算阈值电流，即激光二极管开始发光或者发光明显时的驱动电流值。
特定器件的拐点和线性度也可以基于对光强度测量结果的分析进行计算。

温度测试
LIV测试一般在多个温度下对激光二极管进行。有时会在器件指标中的标称温度以及极限温度下对激光二极管进行测试，如–40°C, 25°C, 和85°C。另一种常见的温度测试方案是在一系列温度下进行LIV测试，如5°C、10°C、 15°C、20°C、25°C、30°C、和 35°C，然后对这一组LIV测试曲线进行分析，以保证器件满足规格要求。

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