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标题: 用JTAG做边界扫描的问题 [打印本页]

作者: johnxxxx    时间: 2006-4-7 15:36     标题: 用JTAG做边界扫描的问题

请问版主:


用JTAG做边界扫描,没有BSDL文件可以做吗?


JTAG的语法总共有哪些?


如:attribute COMPONENT_CONFORMANCE


attribute PIN_MAP


attribute TAP_SCAN_IN


谁有IEEE 1149.1的标准?麻烦发给我一个 : johnzhengzheng1@163.net


作者: linuxarm    时间: 2006-4-8 21:05

这个是JTAG调试的原理,看看有没有帮助吧.
http://bbs.chinaecnet.com/uploadImages/JTAGjj.rar
作者: johnxxxx    时间: 2006-4-9 23:24

不错不错,虽然看起来有点枯燥但我会结合实际应用JTAG来理解这篇文章的,谢谢了,希望以后多多指教.
作者: sz_scott    时间: 2006-7-8 03:36

这里有各种中文JTAG测试平台资料,欢迎联系NETBASE0755@163.COM
作者: alexzheng    时间: 2006-8-30 13:18

最近搞了个JTAG的测试,发现JTAG并不是那么好搞的,这里面有很多因素会导致测试的失败,
首先:JTAG的提出这种理念是非常好的,他可以缩短我们的DEBUG周期和范围,但是其中出现的诸多不可控的因素是我们非常头痛的.
(1) BSDL的兼容问题,很多厂家都提供BSDL,但就算BSDL完全适合你的芯片,但是哪怕有那么一定点的差别,你也很难搞定JTAG测试,比如版本,批次等等,而这些问题一般只有找芯片厂家,但芯片厂家一般也无法解决这样的问题.
(2) 即使你已经按规定设计了很好的JTAG Chain,但是哪怕其中的一个BS IC有一丁点问题,你的整个Chain也将受到影响,使你无法进行下去.
(3) 有时候即使BSDL能正常工作并能够进入BS MODE,但是在测试的时候还是会出现很多莫名其妙的问题,这些问题包括报出大量的SA问题,有时候在同一个BS IC管脚上自己读写都会出问题,这种问题理论上是不可能的,但确实事实存在的,而且也是不可能解决的,最后只能放弃这个BS IC.
(4) 假如放弃其中的一个BS IC,却会给整个JTAG测试带来很大的不可预料的麻烦,而且会因为放弃的IC而出现失控状态,这种情况是最糟糕的.

作者: jiecklee    时间: 2006-11-6 09:08

请教JTAG
想开发相关测试设备,能否请教交流.
作者: hp3073    时间: 2007-4-10 19:24

那位兄弟对这有研究啊,可以一起交流下,我有个程序里面有9个BGA有boundary scan,我看着都头痛。
作者: showmefor    时间: 2007-6-19 19:51

QUOTE:
以下是引用hp3073在2007-4-10 19:24:00的发言:
那位兄弟对这有研究啊,可以一起交流下,我有个程序里面有9个BGA有boundary scan,我看着都头痛。

或者可以买个BS 测试设备。做BS测试简单,调试也简单。


作者: cloudy313    时间: 2007-6-22 11:35     标题: BS测试设备

QUOTE:
以下是引用showmefor在2007-6-19 19:51:00的发言:

或者可以买个BS 测试设备。做BS测试简单,调试也简单。

可以联系我,EMAIL: queency@sensetech.com.cn

                     QQ: 657269915


作者: xiaoguai    时间: 2007-7-11 11:38

偶是高人,回答问题来了。

1,BSDL的兼容问题。 

      每个芯片的生产厂家都是一定的,然后这个厂家会提供唯一的,适合这个芯片的bsdl。所以,每个芯片的bsdl文件是唯一的。

      但是,当一个芯片有多个批次,而批次之间可能有不同,这就会造成同一芯片,有多个bsdl(不同编号)对应的情况。在此情况下,需要首先核对芯片和bsdl的IDCODE项,只要这个相同了,那么bsdl就绝对的正确匹配了。

     再说的细一些,IDCODE包括几个部分:生产厂家,芯片类型,芯片版本。不同批次的芯片IDCODE的版本号会不同,则IDCODE不会匹配的。

     2, 即使你已经按规定设计了很好的JTAG Chain,但是哪怕其中的一个BS IC有一丁点问题,你的整个Chain也将受到影响,使你无法进行下去.

      这个嘛,如果硬件出问题的话软件肯定是无能为力的。不过有几种处理办法。1,在软件中设置,将有问题的芯片BYPASS。2,硬件飞线绕过有问题芯片。



(3) 有时候即使BSDL能正常工作并能够进入BS MODE,但是在测试的时候还是会出现很多莫名其妙的问题,这些问题包括报出大量的SA问题,有时候在同一个BS IC管脚上自己读写都会出问题,这种问题理论上是不可能的,但确实事实存在的,而且也是不可能解决的,最后只能放弃这个BS IC.

      呵呵,这还是你功力不到家啊。这些问题偶在开发的过程中都遇到过,不过偶都解决了。

     SA偶不明白是啥意思,自己读写出问题可能原因有:1,芯片没有真正进入Boundary scan模式,或者说,进入boundary scan模式的条件没有被完全满足。2,芯片的有些管脚是不支持读或者写的。3,芯片已经坏掉了(可以用万用表测量该pin电压来验证)。



(4) 假如放弃其中的一个BS IC,却会给整个JTAG测试带来很大的不可预料的麻烦,而且会因为放弃的IC而出现失控状态,这种情况是最糟糕的.

      任何一个BS IC都不能放弃!!本来Boundary Scan的coverage就不是很高,你再放弃,那还得了啊。

        另外,偶明白这些是因为偶是做这个产品的,欢迎访问偶的网站,顺便买俺的产品,或者用俺们免*费的产品也行啊。www.bgascan.com  这上面那个FreeX是完全免*费的,软件免*费下载,硬件是使用Xilinx的下载电缆。 下载了就能使用的。欢迎捧场。

[此贴子已经被作者于2007-7-11 11:40:13编辑过]


作者: chcc44    时间: 2007-8-7 18:39

各位高手~

小弟我剛剛接觸 asset-scanworks 編程boundary scan prgm

如有asset-scanworks 編程boundary scan prgm 高手~

煩請不吝指教~

QQ:64382080

mail: chcc44@gmail.com

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