在同步设计中,我们必须遵循某些设计规则,使程序经过综合工具的编译后,能够综合出效率、可靠度都较高的电路。再次强调几种不良设计风格。

1、多重驱动
虽然多重驱动有时会在测试平台中出现，不过决不应该在RTL程序中出现。在多重驱动下，Net的电平无法预期，有时会造成信号碰撞。

2、正负沿混合设计
这意味着组合逻辑的时序延迟折半，并且不利于后端做CTS(Clock Tree Synthesis)的工作，且对于ATPG（自动测试向量产生）而言有不利的影响。

3、多重时钟驱动
这种设计在综合时是通不过的。

4、不以if-else作为condition的区分

5、case语句里遗漏default的描述

6、混合同步与异步Reset的语句
触发器的异步输入应该只有Reset信号，不应合并其他同步信号。

7、对组合逻辑Reset
能过被Reset的只有存储元件，组合逻辑不应含Reset描述。

8、不使用完整的敏感列表

9、没有初始状态的程序状态机

10、在模块与模块间使用双向信号
双向信号会使用到三态缓冲器，在Chip内部使用三态缓冲器的缺点如下：
a.存在着信号碰撞的风险

b.当其皆不被输入或输出使能时，将导致巨大的功耗

c.增加静态时序分析、DFT与布线的困难度