标题:
ICT及ICT测试原理
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作者:
forsuccess
时间:
2012-12-22 23:26
标题:
ICT及ICT测试原理
一、简介:
ICT在线测试机(IN CIRCUIT TESTER)是经由量测电路板上所有零件,包括电阻、电容、电感、二极体、电晶体、FET、SCR、LED和IC等,检测出电路板产品的各种缺点诸如:线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等,并明确地指出缺点的所在位置,帮助使用者确保产品的品质,并提高不良品检修效率。它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器(REED RELAY),是当今测试涵盖率最高,测试最稳定,使用最方便,提供数据最齐全的在线测试机。
二.隔离(GUARDING)测试原理:
在测试ACT测试最大的特点就是使用GUARDING的技巧,它把待测元件隔离起来,而不受它线路的影响.(如下列图示).电脑程式自动选择恰当的隔离点可选择多个
三.电阻的量测方法:
(1)定电流测量法:
使用定电流测量法,电脑程式会根据待测电阻的阻值自动设定电流源的大小.
(2)定电压测量法:
当待测电阻并联大电容时,若用定电流测量法,大电容的充电时间过长,然而使用定电压测量法可以缩短测试时间.
(3)相位测量法:
当电阻与电容并联时,如果用电流量测法无法正确量测时,就需要用相位量测法来量测来做测试.此法利用交流电压为信号源,量测零件两端的电压与电流的相位差,藉以计算出各别的电阻抗,电容抗或感抗.
(4)小电阻的量测:
一般小电阻量测(0.1Ω~2Ω),可以把它当成JUMPER的方式测量但只可量测有无缺件. 若需较精确的量测,就须用四端量测. 原理如下:
信号源和量测各有自己的回路,因此可準确量测RX上的压降。
应用:小电阻如 0.1Ω~10Ω,小电感,小电容量测时会受到 cable 和探针接触不良的影响,而造成测试不稳,而四线量测就可以解决这些问题。
由二线式改為四线式量测法的修改说明如下:
a. relay board需做以下修改,JA, JB, JC 跳线拿掉, 使之开路OPEN。
b. JA0, JA1, JA2, JA3, JB0, JB1, JB2, JB3, JG0, JG1, JG2, JG3
c. 此时Relay board只剩下32点, 因為第二连接器已被当成sense使用。
d. 程式方面须做如下设定:
e. 在此设定下,电阻值最小可量测到0.01Ω。
宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法,分别量出其零件值,由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz),因此可以侦测的范围优于一般的ICT,像下图线路中的零件都可以准确量测。
三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR,DIGITAL TRANSISTOR,FET,SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER,做正确的测试,如有反插或零件损坏,必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。
电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插,可测率100%;以测漏电流方式侦测电解电容极性反插,可测率极高。
软件系统
JET-300拥有超越一般ICT的软体功能,无论是在测试前的程序制作支持软体, 或是测试后的不良信息和数据分析,都有高水平的表现。在微软中文窗口环境下执行的系统程序,操作容易,功能强大。
最差零件(焊点)排行榜
系统可打印出不良数最多的零件(前十名)和不良次数最多的焊点( 前十点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。
测试数据统计的日报表和月报表
图表上半的长条图用以显示当月份每日累积OPEN/SHORT,零件不良率及整个测试的可接受率。图表的下半派图用以清楚明了地显示当日各不良原因的百分比。
网络实时监控系统
如果把多台ICT连到内部网络系统 ,则每一台ICT的测试统计数据都可以在网络上的任何一台计算机上显示,管理者可以很方便地随时查看生产线的状况。
网络错误讯息查询系统
只要把ICT 和检修站都连到内部网络系统, 则在检修站就可以检视到不良板的所有错误讯息,包括:打印机的印出讯息和错误图形显示。
待测板图形显示功能
可在待测板不良发生时,明白显示不良零件或焊点的位置,亦可在零件位置查询时显示零件的位置,此功能可大大缩短不良品检修的时间和程序调适的时间。如果厂内有网络联机系统,则此图形亦可在维修站的屏幕上显示出来。
作者:
yangkehan
时间:
2013-1-2 19:06
本帖最后由 yangkehan 于 2013-1-5 14:51 编辑
ICT即电解电容极性测试 ,以三端点法侦测铝质电解电容极性反插,可测率100%;以测漏电流方式侦测电解电容极性反插,可测率极高。在其使用电路中含有电容、电阻、电流表、电压表等,需要用万用表来进行使用前的校正测量,而且现在
万用表价格
也不是很贵,可以和ICT 配套购买使用。
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