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标题: 金鹏飞推出中文JTAG边界扫描测试平台 [打印本页]

作者: sz_scott 时间: 2006-8-30 14:46 标题: 金鹏飞推出中文JTAG边界扫描测试平台

    随着通讯电子技术发展，芯片、单板、系统的复杂度不断提高，体积不断缩小，测试的难度、成本、周期都在急剧增加，边界扫描测试技术就是在这种背景下应运而生的，并成为业界最成熟的DFT技术。 x.Ag>XM
    金鹏飞科技经过不懈努力，自主开发了金鹏飞JTAG边界扫描测试平台。该产品符合电气电子工程协会（IEEE）1149.1标准，可应用于产品设计、原型调试、生产测试、现场安装、维修服务等产品生命周期的全过程，对降低测试难度、提高测试质量、提高产品故障定位能力等各个方面都有重大意义。 /ax #4'
    金鹏飞JTAG边界扫描测试平台全中文界面，支持WINDOWS NT/2000/XP，自动化程度高，操作便捷。同时金鹏飞JTAG边界扫描测试平台以下一代测试平台为目标，产品功能特色显著：提供开发调试、小批量验证、批量生产和市场服务的综合解决方案；集成电路板级/系统级工艺测试诊断、ISP编程、开发调试功能；提供开放的工业级标准脚本开发语言；提供多功能非BS扩展测试；提供文档锁定功能；支持逻辑功能自学习功能；兼容各种标准数据接口等。 B)?6V3
    以金鹏飞JTAG边界扫描测试平台为基础，金鹏飞科技相继推出了电信类产品、高密度类产品、高可靠性类产品、终端类产品、定制类产品JTAG边界扫描测试方案，协助客户提高测试效能。

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作者: sz_scott 时间: 2006-9-26 21:04 标题: jtag测试

金鹏飞推出嵌入式 JTAG 边界扫描测试系统方案

IEEE1149.1对由背板系统的电路板进行测试是比较困难的，该标准主要是用TDI/TDO串行扫描路径对单板进行测试的，无法利用背板总线完成测试信号的并行测试。

金鹏飞科技根据这种情况推出了包括系统级边界扫描控制板及其控制软件完整的嵌入式 JTAG 边界扫描测试系统方案，该方案使用边界扫描测试接口的商业电路，可提供从一个扫描链到多个扫描链的切换，这样就构成了一个完善的层次测试系统。

该方案大大拓展了JTAG测试技术应用领域，对协助客户进一步完善DFT开发能力、提升产品生产质量、强化故障现场处置能力具有非常积极的意义。

详细情况请联系金鹏飞科技相关机构。

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