电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛

标题: LED的寿命试验方法 [打印本页]

作者: reporter 时间: 2013-9-9 14:43 标题: LED的寿命试验方法

&nbsp;平均寿命是电子元器件最常用的可靠性参数，发光二极管的平均寿命一般以光通量（光功率)的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据，这时采用本标准给出的一种可缩短试验时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序（简称退化系数外推解析法）。当白光LED需要考虑色温漂移时，以色温漂移为单一判据的白光LED或同时考虑色温漂移和光通量衰减具有2个失效判据的白光LED，则采用常规的定数截尾法获取试验数据，并采用已有的国家标准：寿命试验和加速寿命的简单线性无偏估计法（GB 2689.3－81）、寿命试验和加速寿命的最好线性无偏估计法（GB 2689.4－81）来进行数据处理，然而这种情况则需要较长的试验时间，而且数据处理的方法也比较复杂。因此我们在制定&ldquo;LED寿命试验方法&rdquo;的标准分为2个阶段：
&nbsp;
（1）以光通量（光功率)的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据，采用退化系数外推解析法处理试验数据（也可采用GB 2689.3－81）。这一部分适用于单色光和不考虑色温漂移的白光LED已较成熟，现已可形成标准申报实用。
&nbsp;
（2）当白光LED需要考虑色温漂移时，其失效判据及数据处理方法我们正处于研究之中。待成熟时，将采用线性无偏估计的方法单独形成另一标准。
&nbsp;
LED的寿命试验方法.pdf
&nbsp;
&nbsp;
更多精彩资料请见：LED驱动电源、设计技巧资料大集合！

[最后修改于2013-07-03 14:32]

欢迎光临电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛 (http://bbs.eccn.com/)