标题: 汽车电子极近场EMI扫描技术方案2 [打印本页]
作者: rise_ming 时间: 2013-10-1 11:40 标题: 汽车电子极近场EMI扫描技术方案2
极近场扫描系统完成了空间和频谱扫描后显示并生成了以下辐射特性图。需注意的是，扫描结果叠加在Gerber设计文件上，因此这样对结果进行分析可以立即确定待测器件中的具体辐射体。
图2显示了SSCG功能为“关”时待测器件的辐射特性
图3为SSCG功能为“开”时待测设备辐射的空间和频谱（幅度与频率）特性。通过对比，可以发现辐射已经显着减少
对测试结果进行比较之后，设计团队发现由于使用了SSCG功能导致电磁辐射显着减少。汽车电子工程 师最大的挑战在于减少EMI辐射。客户支持团队每次向汽车厂商客户展示这些结果时，他们普遍都表现出了极大的兴趣。任何降低EMI的功能（此案例中为 SSCG功能）都可以缩短上市时间、降低屏蔽和成本支出。
EMI近场辐射特性：新一代串行解串器例子
这是同一家半导体供应商的第二个例子，该公司开发了一个通过串行解串器进行点到点传输的第二代芯片组解决方案。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。他们将双向控制通道一起嵌入高速串行链路中，从而实现了双向传输（全双工）。
为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性，设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。他们将原来的半双工板放在扫描仪上，进行基线测量。对待测器件加电后，他们在PC上激活了扫描仪。
图4:半双工和全双工串行解串器器件的EMI扫描的测试环境
采用同样的测试设置，设计团队用新一代全双工芯片组板替代了基线板，同时也针对每一条特性保持了同样的规格。如上文所述，需注意的是，空间扫描叠加在每次生成的Gerber设计文件上，以帮助工程师可以确定任何存在的辐射源。
| 欢迎光临 电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛 (http://bbs.eccn.com/) |
Powered by Discuz! 7.0.0 |
