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标题: 转――C2000芯片的ADC [打印本页]

作者: reporter 时间: 2013-10-29 10:05 标题: 转――C2000芯片的ADC

C2000有3代产品2812,28335,28035。他们的ADC说是12位，但是很多人做不到，一般认为他们的ENOB是10.1,10.9,10.4.

但其实针对C2000的ADC说ENOB并没有很大意义。因为在测试交流电时ENOB和实际精度并不是1:1的。而测量直流电的时候ENOB却包含了，INL,offset error,gain error....

而TI的datasheet给的相关参数又给人以误导，以28335为例，datasheet中给的offset error ±15LSB，Gain error ±30LSB，是经过adc_cal()矫正后的值;

这里的Gain error 是极端值，即C2000工业品在-40C&nbsp;&nbsp;- 125C，量程在0~3V之间的极限值；实际上Gain error是会因为输入值大小而改变，比如3V的时候是30LSB的Gain error，1.5V的时候就是15LSB。还会因为内部参考的温飘而变化。通常情况下，Gain error 应该是±10LSB。

offset error是可以矫正的，理论上，可以矫正到0.

实际应用中28335的精度一般是有4LSB的error。

正因为如此我个人认为，再在28335中引用2808的校正程序好像有点多余。毕竟28335出厂时已经有一个矫正数据在adc_cal()中，而真正会影响采样精度的C2000芯片各通道之间的串扰又很难解决

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