标题: 安捷伦工程师新著 X 参数权威书籍 [打印本页] 作者: porereading 时间: 2013-11-26 19:31 标题: 安捷伦工程师新著 X 参数权威书籍
2013 年 10 月31日，北京——安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布出版《X 参数：非线性射频与微波元器件的表征、建模和设计》，该书阐述了安捷伦突破性的非线性 X 参数测量、建模和仿真技术。该书由剑桥大学出版社出版，包含多个应用实例，是一本向读者介绍 X 参数理论的权威指南。
该书作者为安捷伦科学家与工程师 David E. Root、Jan Verspecht、Jason Horn 和 Mihai Marcu，他们是 X 参数理论的原创发明人和开发者，并且这一强大理论被应用于非线性射频与微波元器件和系统。同时，该书的作者也是工业界和学术界公认的建模、仿真和测量科学领域的权威专家。
本书为 X 参数技术奠定了基础，并通过实际案例为读者提供了有用的概算方法。这些概算方法显著降低了非线性元器件和系统的测量、建模和设计复杂程度。本书还讲解了如何利用 X 参数解决在非线性射频与微波工程中的复杂难题。
