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标题: [求助] [打印本页]

作者: yurx 时间: 2004-12-30 16:46 标题: [求助]

请教:半导体器件的常见失效模式从外观和电路测试判断,及从电路内部判断,可分为哪些?

作者: albertburns 时间: 2004-12-30 16:46

看看维修方面的书不就知道了？！

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