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标题: 请教:半导体器件的常见失效模式 [打印本页]

作者: yurx 时间: 2003-9-25 14:57 标题: 请教:半导体器件的常见失效模式

半导体器件的常见失效模式从外观和电路测试判断,及从电路内部判断,可分为哪些?

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