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标题: 1.4 电子元件的失效分析 [打印本页]

作者: 海洋狂吻 时间: 2014-3-30 15:05 标题: 1.4 电子元件的失效分析

1.4
电子元件的失效分析

1.4.1
电子元器件的失效过程

各类电子元器件的失效可以分为三个阶段，早期失效期、正常失效期和退化期。

1.4.2
失效分析在提高产品质量上起的作用

加强电子元器件的失效分析是改进电子设备质量最根本、最积极的办法。

（1）为元器件生产单位提供质量信息，为他们提高产品质量提供依据。

（2）找出元器件应用失效的原因，为整机生产单位提供改进工作建议，以便采取积极措施纠正设计或应用不当出现的问题。

（3）确定电子元器件的失效性质和失效原因，未处理出现的质量问题提供依据。

1.4.3
引起电子元器件失效的主要原因

（1）设计不当电路设计不当、结构设计不当、工艺设计不当

（2）元器件选型不当耐压档选择

（3）操作失误
电容装反

（4）过电应力损伤静电阀值

（5）装备工艺及装备环境影响
元件位置、散热；焊接工艺

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