由上可见,虽然铜一铜接触所产生的热电动势很小,但如果铜质材料连接不良,并且存在氧化时,热电势对微弱直流信号测量的影响是相当大的 。
其中,待测电,阻为尺,测量接触电阻和引线电阻分别用尺和凡表示,从图中可以看出,未知电阻凡测出的电阻值将是凡、尺和凡阻值之和。所以,只有在待测电阻较大的时候才能采用此方法,如果被测电阻较小,甚至小于测量导线电阻,那么该方法就会产生较大的误差。因此,对于测量本身电阻值很小的微电阻,二线法是不适合的,它只适合于较大电阻的测量接线。
图中,待测电阻」路的一端通过导线接地,另一端分别经由两根导线连接运放Al和AZ,要求三根导线的电阻相同,均为尺。当通以如图电流I时,两个运放输出电压代和K分别为:(三个运放的增益都为1)
从上式可知,不管被测电阻的值是多少,导线电阻所产生的误差影响可以被补偿。在这种补偿法测量微电阻电路中,确保测量精确度的因素主要是三根导线的电阻值凡是否一致。所以,当用此法测量电阻值较小的电阻时应该要特别注意连接待测电阻的三根导线的电阻值要相等才能保证测量的精确度。
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