按微处理器仿真通信接口大致分两类,一类是具有仿真接口(如JTAG)的微处理器,一类是没有仿真接口的微处理器,对于配备类似JTAG 接口的微处理器,测试仪通过仿真一个JTAG 接口对被测芯片进行功能或参数测试。没有配备仿真调试接口的芯片,可以根据芯片的外部接口和引导方式选择测试模型。
通过测试仪来模拟状态转换就可以实现JTAG 通信控制。
1.2 引导模式/FLASH 编程模式
ARM Cortex-M3 内核搭载了若干种调试相关的特性。
图5 为ARM 芯片测试向量生成器。测试代码一般可以从ARM 芯片开发例程中获得,测试向量通过编译器编译成ARM 芯片可执行代码,然后与激励向量和期望向量混合生成完整的ARM 芯片测试向量.ARM 芯片测试向量生成工具通过时间参数来确定测试代码。激励向量与期望向量之间的时序关系,ARM 芯片时间参数可从芯片手册中获得。测试向量生成后,通过BC3192 集成开发环境下载到测试系统图形卡中,启动测试程序,激励向量依序施加到被测ARM 芯片的输入端口,同时对输出端进行监测比较获得测试结果。综上,测试向量的产生是ARM 芯片测试的核心,本文所述测试向量生成器通过输入ARM 芯片可执行代码和芯片时间参数来产生测试逻辑,具有易用。高效的特点,现已用于多个ARMCortex 内核微处理器的测试中。
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