电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛

标题: 基于ARM内核SoC的FPGA 验证环境设计方法（4） [打印本页]

作者: yuyang911220 时间: 2015-1-24 17:13 标题: 基于ARM内核SoC的FPGA 验证环境设计方法（4）

JTAG链的设计　　通过ARM处理器内的JTAG测试接口，可对整个系统进行探测和配置。使用Altera 公司的QUARTUSII软件对APEX20K器件进行配置时，JTAG链是其中的一条重要配置通路。因此，JTAG链的设计十分重要，其主要设计任务是对FPGA 内的JTAG链与ARM 处理器内的JTAG测试接口进行匹配连接，形成一个统一的JTAG链，它主要包括TCK、RTCK、TDI、TDO 、TMS 和FPGA 配置成功(DONE) ，以及调试请求(DBGRQ) 应答信号(DBGACK) 、系统复位(SRST) 和测试复位(TRST)等信号，其中时钟信号TCK和RTCK通路应当设计得越短越好。至于使用JTAG模式对器件进行编程和配置，可依据参考文献[ 1 ]第5 章进行设计。JTAG数据通路在配置和调试时各不相同，在设计时应当选择几乎无导通电阻的多路选择器对该信号作出合理的分配，对FPGA 器件进行配置和调试时，JTAG数据通路分别如图4、图5 所示。

　　图4 　配置时JTAG数据通路　　

　　图5 　调试时JTAG数据通路　　

　　存储器电路的设计
　　ARM7TDMI 核虽给出了存储器接口信号，但这些信号对存储器的访问是单一有限、扩展极为不方便的，不能适应不同用户对多种存储器系统( Flash、NANDFlash、SRAM 和SDRAM) 的使用需求，所以大多数SoC都在片内集成了存储器控制器(我们开发的SoC 的片外存储器控制器称为EMI) ，所以该验证平台上设计了以上4 种存储器，用以验证该EMI IP 核。由于ARM7TDMI 核除了可以实现32 位访问存储器的方式外，也可以支持16 位访存方式，所以，通过在控制线上设置软件可配置的开关实现了3 种数据宽度的访存方式，即8 位(byte) 、16 位(half word) 和32 位(word) 的访存方式。
　　验证平台的调试和检验
　　当该系统中的各个模块在PCB 上调试成功后，该验证平台能否很好地验证SoC 的IP 核的开发呢? 我们将已经成熟的AMBA 总线IP 核的Verilog 代码，通过Synplify 综合，利用Altera 公司的QUARTUS Ⅱ软件作布局布线，烧入APEX20K1500E ，再用同样方式将新开发的EMI IP 核的Verilog 代码烧入该FPGA(注意:在该过程中有很多综合和布局布线技巧) ，将其中的SDRAM控制器作为验证示例，选取其中最简单的访问方式，来验证该平台能否使用。该验证平台中使用的SDRAM型号为W981216BH26。上电后，首先要对所有内存区(bank) 预充电，经8 个自刷新周期后需要设置访问模式，即编程模式寄存器。以上3 个过程要求如下：

欢迎光临电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛 (http://bbs.eccn.com/)