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标题: 系统电源循环通断的测试仪 [打印本页]

作者: Bazinga 时间: 2015-3-4 09:25 标题: 系统电源循环通断的测试仪

上电循环测试非常重要，因为它测试的是用户环境。设计不良的系统板或芯片会造成上电循环测试失败。此外，对系统板工作台测试时，上电循环测试的设置可能需要采用沉重而昂贵的商用电源。当你需要同时测试多块系统板时，情况更加糟糕。

本设计实例描述了一个简单而廉价的上电循环电路，它只用少量元件（图1）。电源输入电压来自一个廉价开关电源适配器的直流电。这种电源适配器通常为系统板提供电源。电路使用一个12V供电。将电源单元的插头插入电源插座J1。于是来自J2的电路输出电压连接到系统板，去做上电循环。12V电源通过电阻R5和R6，它们用于限制通过继电器开关S1和S2的电流。
在上电起动时，继电器S2的触点为常闭，使来自R6的12V电源经过电阻R1和R2为电容C1充电。与晶体管Q2串联的电阻R8增加电容C1的充放电周期。一旦C1充电到2V，则晶体管Q2导通。这个动作是在晶体管Q2基射结上施加一个约0.7V的电压，使Q2导通。当晶体管Q2导通时，它为S2的线圈提供了一个低阻路径，因此为继电器赋能，使S2的触点2B闭合。
此时，12V电源将其路径切换到触点2B，并使光耦的二极管导通，使内部晶体管导通。然后，光耦驱动晶体管Q1。当Q1导通时，它为S1的线圈提供一个路径，使继电器赋能，因此将12V电源连接到输出电压。电路将输出电压连接到系统板的电源上，使电路板上电。系统保持通电约45s。在上电期间，电容C1通过R2、Q2和R8缓慢放电。当晶体管基极上的电压低于晶体管的导通电压时，C1使晶体管Q2关断。然后，触点2B连接到触点2A，重复这个循环。
电路的关断时间大约为17s。续流二极管D1和D2用于降低通过继电器线圈的电流快速变化时产生的瞬变大电压。

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