电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛

标题: 懂bsdl的来报道啦 [打印本页]

作者: George 时间: 2003-11-4 16:05

俺们单位可是光这一套测试jtag的设备就得人民币十好几个万。怎么就没人懂呢？
再提示一下：inter,infra, flash programming, EPLD programming.
其实就是通过tap口将板子联到pc,pc将信号再传给大板，这套东西比安捷伦3070要更适用于测试BGA.

作者: George 时间: 2003-11-5 15:37 标题: 没问题

是你们自己开发的吗？应用到什么程度？
我和几个作jtag的公司联系过，都是能做infra 和 inter的测试。不能完全满足我们的需求。能不能详细提供一点你们单位的资料。

作者: George 时间: 2003-11-7 10:44

是这个意思。但你的东西恐怕还不成熟。flash,和epld也是要考虑的。我不太懂底层的东西，应该是有一个通用应用程序，这样别的公司能够用它来自动生成自己的测试程序。你可以找别人一起合作。或者查一下jtag看别人是怎么作的。市场不要愁。
这些东西点到为止。再有疑问，给我发个短消息就行了

作者: weixiao@usisz.c 时间: 2003-11-12 16:18

有谁懂Agilent公司的3070测试机的Boundary Scan?

作者: George 时间: 2003-11-13 10:31

3070的原理和jtag是不一样的，3070受限于插针不可能测量到BGA。而且3070的测试夹具又大有贵。
3070对非BGA片子的测试是没有问题的，jtag仅限于带有JTAG接口的IC.举例来说，3070可以测量某个电阻的通断，而对JTAG来说是不可能的。
但是，据jtag说，他们已经将jtag和3070连在了一起，很恐怖啊！agilent很意外的。

作者: weixiao@usisz.c 时间: 2003-11-13 10:38

3070现在有了支持IEEE1149.1标准的Boundary Scan测试，也可以不受限于测试探针，只要几个有Boundary Scan的IC连在一起即可测试。
不知和JEAG有否不同？
如果JTAG已经和3070连在一起了，Agilent应该会公布的。

作者: andy.tu@mic.com 时间: 2003-12-16 19:03

JTAG测试不能测试GND和VCCｐｉｎ，所以，测试覆盖率还是很低，INTEL最新出现STT测试技术，用于P5的测试。

作者: George 时间: 2003-12-16 20:03

原闻其详，偶很想知道一些信息哦

作者: andy.tu@mic.com 时间: 2003-12-28 17:49

现在P5的主板已经开始试产,INTEL开发了一快电路板取代CPU利用FET的原理在线测试.

作者: weixiao@usisz.c 时间: 2003-12-30 15:41

我们公司明年年初也要开始试产P5，但不知STT是什么，“INTEL开发了一快电路板取代CPU利用FET的原理在线测试”也不是很明白？

作者: tuhui835 时间: 2004-3-8 11:35

就是那块电路板上由很多小的FET组成，但好像也很贵，100美金一个。

作者: George 时间: 2004-3-27 16:21 标题: 懂bsdl的来报道啦

bsdl是以后测试的一个方向。
这个论坛里数字工程师很多，应该有所了解吧。
大家不是抱怨挣钱少吗？这就是一桶金啊

作者: zcc2000 时间: 2004-3-27 16:21

请问各位dx，bsdl编写一个器件，用什么软件来编译仿真呢？
网上有没有免费的阿？谢了

欢迎光临电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛 (http://bbs.eccn.com/)