随后,可以使用在 Agilent X 系列信号分析仪上运行的 Signal Studio 软件生成测试信号。生成信号之后,通过 LAN 或 GPIB 将波形下载到信号发生器。将信号发生器的射频输出端连接到信号分析仪的射频输入端,使用扫描频谱分析测量 ACLR 性能。在此例中,信号分析仪处于 LTE 模式,中心频率为 2.11GHz,选择了 ACP 测量。随后,通过从 LTE 应用程序中的一系列可用选项中(例如成对或非成对频谱、邻近信道和相间信道中的载波类型等选项),调用适当的参数和测试限制,根据 LTE 标准进行快速一键式 ACLR 测量。
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