3. 通用的调试步骤
通常会使用一定的调试步骤来定位问题,避免重复工作。一开始,一般不进行整个工程的测试,而是基于SERDES的Wrappers工程,以方便定位问题。一般可以使用CORE generator里的Transceivers Wizard产生的Example Design。在Core generator里产生Transceivers Wizard的Example Design后,会输出源文件和scripts。利用scripts可以直接产生运行结果。Example Design里的数据产生和检测都是基于BRAM,可以很方便的修改数据。在工程里面,Chipscope VIOs and ILAs必须被加入到工程里面,进行控制和调试分析。
a) 进行Near-end PCS测试。
i. 启动SERDES复位(VIO)。
ii. 确认复位结束(VIO)。
iii. 检查SERDES状态信号(VIO)。
iv. 使用计数器确认时钟频率(VIO)。
b) 进行Near-end PMA测试。
i. 确认CDR工作正常,检测CDR产生的恢复时钟(VIO)。
ii. Comma alignment和8B/10B状态检查(ILA)。
c) 正常操作检测
i. 确认clock correction电路状态(ILA)。
ii. 确认Channel bonding电路状态(ILA)。
iii. 链路通讯检查(ILA和VIO)。