随着无线数字通信的迅猛发展,对于集成电路设计和测试提出了更多的挑战。在产品设计阶段,为了保证系统中射频和基带芯片的协同工作能力和兼容性,需要对系统进行严格的性能测试。然而,日益复杂的数字调制技术常常给面对紧凑的项目期限的设计团队带来更多的压力。所以,设计人员不仅要在短时间内完成系统的测试,还要尽快从测试结果中推断出造成问题的可能原因。本文提出一种全自动化的扫描测试方案,可以对数字通信系统发射链路两个关键参数EVM(ErrorVector Magni rude)和ACPR(Adjacent Channel PowerRatio)进行快速、准确地测量,以便在第一时间找到设计中问题所在。
数字通信系统发射链路扫描测试是指针对某个参数,如增益、频点等的变化评估其对EVM和ACPR的影响。本文以发射链路增益自动功率控制扫描为例进行阐述。APC(Automatic Power Control)自动功率控制扫描是对发射链路中功率放大器驱动和上变频混频器的增益进行扫描,这些控制位在集成电路中通过特定的寄存器位来进行设置,LabVIEW通过SPI和I2C总线以特定的时序访问芯片上这些寄存器,实现读写控制功能,来改变发射链路增益,扫描测试框图如图1所示。