但是,在实际测试中的栅极电压波形则如下图所示。
图中,圆圈处的电压尖峰就是其中一个MOSFET开通时,引起处于关闭状态的另一个MOSFET的栅极电压尖峰。如果这个电压尖峰超过MOSFET的导通阈值电压(特别是在结温较高时,阈值电压下降到常温的2/3),原处于关断的MOSFET将被触发导通,就会产生桥臂的两个MOSFET瞬态共同导通现象,即使仅导通数十纳秒也很可能损坏MOSFET.由于使MOSFET损坏的时刻是随机的,故通常很难找到故障的真正原因。
图中,Cgs、Cgd、Cds、Rg分别为MOSFET内部的的栅/源电容、栅/漏电容、输出电容和MOSFET的栅极体电阻。
图中的Rext为驱动电路内阻和驱动电路与MOSFET间串联电阻之和。
图(b)的等效电路变为一个简单的RC回路,其节点和回路方程为
解式(18-8)的微分方程,开通过程完成时幅值最大,即t=Tm时,其Vgsmax为
很显然,Vgsmax的幅值为V通过Cgd、Cgs所得到的分压值。
从图中可以看到,上图形中的误导通电压值接近4.5V,已经超过MOSFET的导通电压阈值,出现瞬态共同导通现象。在图波形中,仅有不到1V的电压尖峰,甚至可以完全消除这个尖峰。其原因是低驱动回路阻抗与负电压的共同作用强有力地抑制了栅一源极间的dv/dt和电压幅值。
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