JTAG调试原理的基础是边界扫描测试。它通过在芯片的每个I/0脚附加一个边界扫描单元(BoundaryScan Cell,BSC)以及一些附加的测试控制逻辑来实现。每个BSC有两个数据通道:一个是测试数据通道——测试数据输入TDI(Test Data Input)、测试数据输出TD0(Test Data 0utput);另一个是正常数据通道——正常数据输入NDI(Normal Data Input)、正常数据输出ND0(Normal Data Output)。在正常工作状态,输入和输出数据可以自由通过每个BSC,正常工作数据从NDI进,从NDO出。在测试状态,可以选择数据流动的通道:对于输入引脚,可以选择从NDI或从TDI输入数据;对于输出引脚,可以选择从BSC输出数据至NDO或至TDO。芯片输入输出引脚上的边界扫描寄存器单元可以相互连接起来,在芯片周围形成一个扫描链。利用边界扫描链就可以控制芯片的输入,观察芯片的输出。一般来说,芯片都提供了若干条扫描链来完成测试功能。例如ARM7TDMI核提供了3条扫描链。