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标题: 力科推出简单易用的DDR信号调试工具-DDR Debug toolkit [打印本页]

作者: 苹果也疯狂 时间: 2015-10-16 00:12 标题: 力科推出简单易用的DDR信号调试工具-DDR Debug toolkit

引论
现在示波器上的DDR物理层信号分析方案，都是针对JEDEC规范的一致性测试。在这种方案中，分析软件会按照 JEDEC规范分析DDR信号的各种参数，并判断测试结果Pass或者Fail，最终生成一份报告。但是很多的研发工程师，并不想仅仅获得一个Pass或者Fail的结果，而是想对信号做调试分析，但是传统的串行信号分析软件无法分析DDR信号，为此，力科推出了新的DDR Debug toolkit。

新的DDR信号分析方法
力科DDR Debug toolkit提供了一种简单易用的DDR信号调试工具，它快速的对数据做读写分离，形成读写眼图，对眼图进行模板测试和参数测试，对抖动进行分解，定位问题的根源，对比较重要DDR参数进行测量，像建立时间、保持时间、TDQSCK 等，灵活设置参数，对 DDR 信号问题进行调试，可以支持DDR2/DDR3/DDR4/LPDDR2/LPDDR3等。

快速对 DDR 信号进行读写分离
一键对DDR信号进行读写分离，简化了分离步骤，节省了时间，在此基础上，就可以对信号进行测量分析。

眼图测量

可以同时产生和显示10个眼图，对5路DDR信号进行分析，查看分析眼间的Skew和时间信息，可以选择DQS或者Clock作为时间参考，自定眼图模板，进行眼图模板测试。

测量多个眼图参数：

Eye Height
Eye Width
Eye Crossing
Mask Hits
Mask Out
Eye Amplitude
One Level
Zero Level

抖动测试
像传统的串行信号分析一样，对DDR信号的抖动进行测量分析，对抖动进行分解(Tj，Rj，Dj，DCD等)，从TIE Track、TIE Histogram、Bathbub Curve观察分析抖动，更加深入的了解抖动的分布和源头。

DDR 参数测量
对比较关键的DDR参数进行测量，可以同时测量12个参数，包括Max、Min，Mean等统计值。

Bursts,transitions,Vref
VH(ac),VH(dc),VL(ac),VL(dc)
tDS,tDH,tIS,tIH
tDQSQ,tDQSCK
Slew Rise,Slew Fall

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