标题: 边界扫描的测试原理及九大指令（2） [打印本页]
作者: yuyang911220 时间: 2015-11-25 19:41 标题: 边界扫描的测试原理及九大指令（2）
Bypass指令--强制指令
提供穿透芯片的最短通路。
输入输出管脚可正常操作
选择一位的旁路（Bypass）寄存器
强制全为1和未定义的指令为Bypass指令BYPASS指令为全“1”。选择BYPASS指令时，IC工作在正常工作模式，选择一位的BYPASS寄存器连通TDI和TDO，数据的通过不影响IC的正常工作。
（BYPASS指令通过在TDI和TDO之间放置一个1位的旁通寄存器，这样移位操作时只经过1位的旁通寄存器而不是很多位（与管脚数量相当）的边界扫描寄存器BSR，从而使得对连接在同一JTAG链上主CPU之外的其他芯片进行测试时提高效率。）
INTEST指令 ---可选指令
选择INTEST指令时，IC工作在边界扫描内部测试模式（internalboundary-testmode），选择边界扫描寄存器连通TDI和TDO。在这种指令下，可以通过边界扫描输出单元来驱动测试信号至其内部逻辑，以及通过边界扫描输入单元来从其内部逻辑接受测试信号。
RUNBIST指令 ---可选指令
选择RUNBIST指令时，IC工作在自测试模式（self-testmode），对IC的内部逻辑进行全面的自测试，通过选择用户自定义的数据寄存器连通TDI和TDO。在这种指令下，边界扫描单元的输出被内部逻辑控制了，所以外部信号不能干扰其相邻IC。
IDCODE指令 ---可选指令
选择IDCODE指令时，IC工作在正常工作模式，选择数据识别寄存器（dataidentificationregister）连通TDI和TDO。数据识别寄存器是一个32位的寄存器，内容包括IC的生产厂商，芯片类型，版本等。访问数据识别寄存器不会影响IC的正常工作。由于IDCODE指令是可选的，不是每个芯片都有的，所以当对一个边界扫描链(scanchain)执行IDCODE指令来输出所有IDCODE时，有IDCODE指令的芯片就选择IDCODE寄存器，输出输出IDCODE，没有IDCODE指令的芯片会自动选择BYPASS寄存器，输出一个“0”。
（读取CPUID号指令。在设计中存在device identificationregister时，TAP强制定义。该指令将处理器的ID号寄存器连接到TDI和TDO之间。
）
USERCODE指令 ---可选指令
选择USERCODE指令时，IC工作在正常工作模式，选择用户自定义数据寄存器（userdefined test dataregister）连通TDI和TDO。USERCODE指令一般是在进行芯片内部测试时用的。
CLAMP指令 ---可选指令
CLAMP指令使IC的输出置于由边界扫描寄存器的当前内容决定的逻辑电平上，选择BYPASS寄存器连通TDI和TDO。在加载这个指令之前，边界扫描寄存器的内容可以由SAMPLE/PRELOAD指令来预置。在CLAMP指令下，数据通过BYPASS寄存器从TDI传递至TDO，不会影响此IC的输出。
HIGHZ指令 ---可选指令
HIGHZ指令使IC的所有输出置于高阻状态，选择BYPASS寄存器连通TDI和TDO。在HIGHZ指令下，数据通过BYPASS寄存器从TDI传递至TDO，不会影响此IC的输出。
| 欢迎光临 电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛 (http://bbs.eccn.com/) |
Powered by Discuz! 7.0.0 |