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标题: 安立公司为 VectorStar VNA 系列的 O/E 校准模块增添双波长测量功能 [打印本页]

作者: 苹果也疯狂 时间: 2015-12-4 18:22 标题: 安立公司为 VectorStar VNA 系列的 O/E 校准模块增添双波长测量功能

安立公司为 MN4765B 系列 O/E 校准模块推出两个选件，旨在针对光电组件（如调制器、光接收器和集成光收发模块）的特性提供高精度、高灵活性且具有成本效益的测量解决方案。有了这些新选件，MN4765B 即可与 MS4640B VectorStar 矢量网络分析仪 (VNA) 系列结合使用，在波长为 1310 nm 和 1550 nm 时进行高达 70 GHz 的光电测量。

选件 71 允许 MS4765B 与 VectorStar VNA 结合使用，以在 1310 nm 范围内进行 70 kHz 到 70 GHz 的光电测量，而选件 72 可在波长为 1310 nm 和 1550 nm 时提供 70 kHz 到 70 GHz 的测量。两个选件均使用 NIST 规定的典型光电二极管为基准，与其他替代方案相比，可实现更好的 E/O 和 O/E 测量精度。

MN4765B 模块与 MS4640B VNA 结合使用，为光电测量提供一种简化方法，是当前使用的传统全系统方法的一种经济的替代选择。MN4765B 光模块设有可将调制光信号转化为电信号的 InGaAs 光电二极管。该光电二极管对 70 GHz 的带宽响应非常出色。该模块还融合了可实现温度和零偏稳定性的额外电路。

有了新波长选件，MN4765B O/E 校准模块即可用于双波长光电测量，以分析研发和制造中的元件。它还非常适用于正在探索双波长时高达 70 GHz 调制率的大学和研究实验室。

VectorStar VNA 可在单次扫描频率为 70 kHz 到 20 GHz、40 GHz、50 GHz、70 GHz、110 GHz、145 GHz 及各种离散频带直至 1.1 THz 的范围内提供更精确的测量。与市场上其他 VNA 解决方案不同，VectorStar 系列建立在一个稳定的现代化平台上，该平台可轻松实现一系列功能和性能的升级。MS4640B VNA 系列性能优越，因此，器件建模工程师可准确可靠地分析其组件。研发工程师可获取其先进设计中的 dB 最后分数，制造工程师可在不牺牲精度的情况下实现生产量最大化。

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