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标题: 对PLD进行边界扫描（JTAG）故障诊断 [打印本页]

作者: yuchengze 时间: 2016-8-21 16:19 标题: 对PLD进行边界扫描（JTAG）故障诊断

IEEE 1149.1标准规定的边界扫描技术是针对复杂数字电路而制定的。标准中的自治测试技术现已成为数字系统可测性设计的主流。在利用边界扫描技术对芯片印刷电路板进行测试时，单芯片与多芯片电路板虽有相同点，但也有不同点。因为多芯片的电路板可以将几个芯片分别作为测试向量进行发送和接收，而单芯片电路板则只需要一个集发送、接收于一体的芯片。本文在以ＰＣ机作为边界扫描测试向量生成和故障诊断的基础上，对单芯片ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的印刷电路板故障诊断进行了讨论。
１ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的结构和性能
１．１主要性能
ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４是Ａｌｔｅｒａ公司生产的ＥＰＬＤ器件，它的主要性能如下：
内含ＪＴＡＧ边界扫描测试电路。
在５Ｖ电源条件下，ＪＴＡＧ接口可编程。
所有的Ｉ／Ｏ均可在３．３Ｖ或５Ｖ电源下工作，并且在引脚处都有输入／输出寄存器。
ＡｌｔｅｒａＭＡＸ＋ＰＬＵＳⅡ 开发系统可提供软件设计支持，该开发系统可工作在４８６ＰＣ机、奔腾ＰＣ机、ＳｕｎＳＰＡＲＣ工作站、ＨＰ９０００系列７００工作站、ＩＢＭＲＩＳＣ系统／６０００或ＤＥＣＡｌｐｈａＡＸＰ工作站上。
利用ＥＤＩＦ、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬ、ＶＨＤＬ和其它软件可通过ＣＡＥ工具（如ＯｒＣＡＤ）提供仿真支持。
１．２管脚说明
图１是ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４的引脚图，其功能如下：
ＶＣＣ、ＶＰＰ：芯片电源端。
ＧＮＤ:芯片地端。
Ｉ／Ｏ：输入／输出引脚。
ＩＮ１～ＩＮ４:专用输入引脚。
ＴＣＫ，ＴＭＳ：分别为时钟测试和测试模式选择端。
：测试模式选择端。
ＴＤＩ，ＴＤＯ分别为测试数据输入、输出端。
其中，ＴＣＫ、ＴＭＳ、ＴＤＩ、ＴＤＯ为ＪＴＡＧ边界扫描接口，它们和芯片内部的边界扫描寄存器５０４个数据捕获寄存器，１６８个数据更新寄存器，一个指令捕获寄存器，一个指令更新寄存器　链形成的边界扫描结构一起可用于芯片内部和外部测试。
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２　测试系统配置
把ＢｙｔｅＢｌａｓｔｅｒ下载电缆连到ＰＣ机的打印并口可实现ＰＣ机并口与ＪＴＡＧ接口的互连。ＰＣ机可用软件来控制边界扫描接口以完成边界扫描测试任务。
利用ＶＣ＋＋语言可编写ＭＦＣ应用程序（内容主要包括：ＴＡＰ控制类、测试向量生成、发送、采集类、故障诊断类等）以达到人机交互、故障诊断、数据管理三个方面的要求。３　数据发送与数据采集

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