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标题: 开关损耗和传导损耗测试, Part 6 of 10 [打印本页]

作者: yuchengze 时间: 2016-9-12 16:25 标题: 开关损耗和传导损耗测试, Part 6 of 10

　在电源测试系列的本篇博文中，我们将介绍测试电源开关损耗和传导损耗的各个步骤。
　　记住，经过电源开关和磁性器件的开关损耗和传导损耗对系统整体损耗有着巨大影响，正因如此，应尽可能精确地使这些损耗达到最小，这一点至关重要。

MSO5000B示波器测量开关损耗和传导损耗的实例。

　　首先，记住不要单纯依赖产品技术资料，它们经常会产生误导，特别是在计算开关损耗和传导损耗时。此外，它们没有考虑工作条件和电路寄生信号，也没有提供完善的损耗信息。

　　在测试时，首先应检查整流器开关，如电路活动和负载时MOSFETs、IGBTs和磁性器件的损耗。由于大多数磁性器件采用定制设计，如开关器件，因此最好在工作状态下测试磁性器件。这一步可以正确分析其特性。

MSO5000B上显示的磁性特性分析。

　　在测量开关损耗时，我们推荐使用MS05000B示波器，并配备相应的电压探头和电流探头。为实现最好的精度和可重复性，在进行任何测量前应先校正探头时延，为了保证确定周期内结果的准确性，应使用滤波功能和平均功能。

　　在使用示波器测量开关损耗时，先把电压乘以电流。然后取启动或关闭过程中得到的功率波形的中间值。当然，功率分析软件可以大大简化这个过程，因此我们强烈推荐使用功率分析软件。

　　为动态测试磁性功率损耗和磁性属性，建议使用我们的DPOPWR软件。这个软件提供了自动计算功能，在电路活动时，可以测量高功率开关上的可重复开关损耗和传导损耗。

这是MSO5000B示波器测量的磁性损耗实例。

　　在一切就绪后，您可以转向第7篇博文，其将介绍效率和规范测试。

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