电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛

标题: [分享]非常棒的jtag测试方案 [打印本页]

作者: George 时间: 2003-11-21 11:15

刚打听过，已经停产了。卖得不好。
这东西可能是需要预先设计在pcb上的。
如果是在pcb外面，通过3070那样的针头连入就好了。

作者: snowli 时间: 2003-11-21 15:43

到我们公司来介绍过，不过我们没有用他们的技术，最后还是用了agilent的技术，agilent今年出来一种智能的testjet测试方法，很好用，尤其是在线debug功能强大。

作者: George 时间: 2003-11-21 16:47

能不能详细的介绍一下？是不是也用边界扫描？

作者: snowli 时间: 2003-11-24 12:00

怎么样上载文档啊

作者: snowli 时间: 2003-11-24 12:07

Agilent new and improved tech. vectorless test.

作者: George 时间: 2003-12-16 19:18 标题: [分享]非常棒的jtag测试方案

刚找到的，同大家分享一下：
quality semiconductor的quick scan技术。
我见过的jtag是只能对内嵌jtag功能的期间进行测试，这个家伙很有新意。
它作了一个叫做QS3J309的设备。这个设备用来对数据总线进行JTAG的访问，对于系统而言是透明的。该设备由一个TAP(TEST ACCESS PORT)和它们的QUICK SWITCH设备组成。据说测试成本较低并且不会带来负面的影响。
在非BOUNDARY SCAN模式下，这些QUICK SWICT打开，允许数据进行透明的双向的传输。在BS模式下，扫描的数据可以被捕获或者传输上去。显然，如果用来监视总线是再好不过了。
同时，该QUICK SWITCH设备带来的延迟也是只有250ps.可见速度极高。
其最大的好处就是能对一些以前不能用JTAG访问的器件，也可以覆盖得了。具体方法就是在器件之间加入QUICK SCAN的设备。
如果设计好的PCB中因为没有JTAG的器件或有JTAG无法覆盖的路径，应该可以考虑这个啦。
我是得找他们联系一下：）

[em11][em11][em27][em27][em27]

作者: andy.tu@mic.com 时间: 2003-12-16 19:18

testjet测试不准确，经常会有误测，若能有其它的ｖｅｃｔｏｒ测试，最好使用vector测试

欢迎光临电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛 (http://bbs.eccn.com/)