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标题: JTAG之开场介绍 [打印本页]

作者: snowli 时间: 2003-11-25 14:10

现在最新的标准是IEEE1149.6.

作者: George 时间: 2003-11-26 21:33 标题: JTAG之开场介绍

我决定不偷懒，不等贴子了，要振兴论坛，还是自己先上吧。把这个东西翻译出来给大家看。

jtag介绍：
研发工程师通常是不关心测试的，这一部分应该由生产部门来解决。
x-ray和ict(in-circuit test)还有function测试基本满足了要求。但是，挑战总是会出现的。随着器件尺寸的变小及管脚的增多，封装形式的改进。让测试工程师和维修工程师越来越难作。研发工程师需要为测试作准备成为一种迫切的要求。
这时philips的工程师们提出了Boundary Scan的概念。后来发展成为IE1149.1协议。同时还有传说中的TAP(Test Access Port)和边界扫描结构。
这些工程师最后离开了philips，专门成立了一个公司推销边界扫描的概念。
初期很少有芯片厂商支持JTAG,芯片选择比较困难，这种东西推广缓慢。
但先进的东西总是要展现它的生命力的，现在很多厂商已经加入了jtag的接口，如
motorola的ic,amd, Lattice,Xlinix,Altera的可编程逻辑器件，还有德州仪器，analog的dsp.
于是，工程师就可以通过jtag来完成板子的测试，故障监测，pld编程，flash烧写等。

[em08]

作者: yjems@sina.com 时间: 2003-11-26 21:33

谢谢！另外请问早期的菊花链是什么东西啊？早期的Xilinx产品用这个东西下载代码的，不知道和这个JTAG有什么关系没有？

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