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标题: 利用先进的校准测试方法降低移动设备的成本 [打印本页]

作者: yuchengze 时间: 2017-2-23 20:56 标题: 利用先进的校准测试方法降低移动设备的成本

如今消费者利用10年前连听都没有听说过的各种方式使用移动设备已是很平常的事情了。无论是在他们喜爱的咖啡馆浏览网页，通过无线耳机听立体声音乐，或者是在横跨泛太平洋到中国后下载大容量文件，对所有这些先进功能的需求都给移动设备OEM厂商增添了不小压力。
这些额外的功能一方面意味着需要添加额外的频段，另一方面还意味着将增加成本。为了保持已经很薄的利润空间，这些成本将转嫁到消费者身上。然而，转到消费者身上的成本也必须得到控制以便能够在价格竞争日趋激烈的市场上具有有效的竞争力。既增加功能又要具有竞争力，OEM厂商的唯一方案就是在产品的设计和生产中实现积极的变革。

移动设备的成本除市场成本外主要包括材料(BOM)、装配和测试。随着功能增加，导致元器件数量增加，BOM和装配成本似乎也将增加。通过将多功能集成到单芯片或模组中可以降低BOM成本，但这还要取决于芯片提供商的技术开发水平，一般来说OEM厂商是无法控制的。装配成本可以通过低劳动成本和高自动化生产水平来降低，不过这些可能都已经整合到OEM产生的制造流程中了。

剩下来的就是测试了。由于测试的基本目的是确保设备质量，故必须非常小心，以便降低测试成本的同时不会降低产品的质量。

测试成本和时间相结合

厂商的测试成本包括操作员、夹具和测试设备本身成本，还有标准夹具无法提供而又必需的辅助连接产品(touches)方面所需的劳动力成本。移动设备的测试成本将随着测试时间正比例变化。能够成功地减少测试时间的厂商将能够有效地降低成本。

测试时间通常与设备多用频段和模式的数量成正比。假定其他所有都一样，一个4频段的GSM手机的测试时间将大致为单频段手机的4倍。一个双模4频段/3频W-CDMA手机的测试时间将大约为单频W-CDMA手机的7倍。随着蓝牙，WLAN，甚至更多的全球频段被整合到RF和基带处理器中，测试时间只能增加，除非改变生产工艺。

传统测试与现代测试

在80、90年代，移动设备的功能测试靠的是呼叫测试。测试中呼叫处理所需的时间在总测试时间中占据着很大部分。例如，对于每次呼叫来说，在测试之前CDMA移动设备的注册和呼叫建立就需要30秒以上的时间。

除了基于呼叫的功能测试时间代价外，由于测试设备内部的处理能力的限制，也意味着在校准和功能测试阶段中无法同时进行发射和接收测试。假定接收测试为10秒，而发射测试为4秒，该串行测试也会比并行测试多出40%的时间。

起初，环回比特误差率(BER)测量目的是确定设备接收机功能是否正常。由于BER实质上采用的是统计方法，故需要发出大量的比特并进行测量。对如此多的比特进行测试等效于大量的测试时间，从而增加了额外的测试成本。先进的减少时间的测试策略包括：

* 采用接收/发射并行测试
* 省去功能测试阶段中的呼叫
* 利用新的基于C/N的接收机测量来取代BER测量
* 采用快速校准模式

上述所有策略都要求在移动设备芯片中存在非标准测试模式。芯片中所实现的测试模式效率将实际影响OEM厂商工厂所需的投资。故采用较贵并具有较好校准和测试模式的芯片的产品设计在后续的制造阶段将有效地节省成本。

制造测试流程

在传统手机设备制造过程的开始阶段，进入生产线的是裸板(PCB)，然后机器手将元器件和焊膏放置到电路板上，然后进行回流焊(对于反面重复上述流程)，其后是校准装配好的PCB。在第二阶段，将键盘，显示器，以及其他的模组和元器件安装到PCB上，随后进行最后的测试。有时，在组装好机壳和电池后还有进行语音呼叫测试，以确保在装入用户配件和发运前设备能正常工作。

校准方法

移动设备校准通常包括一系列的频率/功率设置，并利用测试设备和移动设备进行功率测量。

对于接收机校准，一体式的测试仪(OBT)能够为移动设备提供一个校准的已调信号。移动设备然后进行接收测量，根据OBT产生的电平与设备接收到的电平差产生一个校准因子并存储在存储器中。该过程需在每个频段的多个频点上重复，每个频点上还有采用多个不同的功率电平。

对于发射机校准，移动设备被设置到指定的频率和功率电平上，然后OBT测量电平，根据移动设备所产生的电平与OBT测得到电平，产生一个校正因子并存储在存储器中。同接收机校准一样，需要在每个频段的不同频点上重复该过程，每个频点上也要求采用数个不同的功率。

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