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标题: 基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计 [打印本页]

作者: yuchengze 时间: 2017-10-22 15:27 标题: 基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计

在现代科研机构电路设计、大专院校的电子系统教学中，集成运算放大器作为信号处理的基本器件，应用非常广泛，准确的掌握集成运放的参数是进行电子系统设计的基本前提。为了方便用户准确掌握手中运放的各项参数，本文提供了一种采用可编程DDS芯片和MCU的测量系统，可自动测量集成运放的5项基本参数，以小液晶屏显示测量结果，并可根据需要打印测量的结果，与现有的BJ3195等昂贵测试仪相比，该测量系统功能精简、操作智能化、人机接口友好。
系统总体设计
系统框图如图1所示。系统以SPCE061单片机为控制核心，采用主从结构，从单片机负责外围的液晶显示、打印、语音提示等功能。主单片机负责接收红外键盘的输入信息，根据当前用户输入，将参数测试部分以及自动量程切换部分设置到合适的状态，然后对测量结果进行读取，并通知从机对测量结果进行显示或打印。系统的DDS扫频信号源，可以通过红外键盘设置输出4MHz以内的任意频率以及任意频率段任意步进的正弦信号。为了提高测量精度，系统另配了一套标准运放参数测量电路，对系统进行初始校准。

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