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标题: 惠瑞捷V93000测试系统推出混合信号测试解决方案 [打印本页]

作者: juliguo 时间: 2007-9-10 11:21 标题: 惠瑞捷V93000测试系统推出混合信号测试解决方案

惠瑞捷半导体的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案，可针对各种高集成度的消费性电子产品组件，进行晶圆测试（Wafer Sort）及终程测试（Final Test）。半导体设计公司及大量生产制造商经常不得不在性能要求的广度和有效又经济的测试需求之间努力寻求平衡，尤其是在设计和生产对价格很敏感的消费性电子产品内的混合信号组件时，常见于ODD（光驱）、DVD、DTV（数字电视）及STB（机顶盒）等应用中的。这些组件的集成度越来越高，甚至内建了ePMIC（嵌入式电源管理IC）和嵌入式闪存组件。消费性电子产品的混合信号测试解决方案可通过最先进的测试方法，确保最高的准确度和测试质量，在进行高集成度组件的晶圆测试和终程测试时，可提供高速的单点（Single-site）和多点（Multi-site）测试能力。

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