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标题: FGL60N100BNTD:1000V无穿通IGBT [打印本页]

作者: linda_li 时间: 2004-5-13 11:33 标题: FGL60N100BNTD:1000V无穿通IGBT

4月29日讯,Fairchild半导体公司推出新的1000V/60A IGBT FGL60N100BNTD,具有优异的开关和导通以及在感应加热(IH)应用中的强健雪崩特性.这些感应加热包括感应加热(IH)稻米罐,感应炊具以及微波炉等.新的FGL60N100BNTD把Fairchild所有权的Trench技术和不穿通(NPT)技术组合起来,能得到所期望的雪崩免疫性.器件的雪崩免疫性保护IGBT在关断状态免受雪崩所引起的现场损坏,从而增加了IH应用的可靠性.在IH应用时, FGL60N100BNTD的开关速度经过优化,上升时间典型为130ns,饱和压降低,在Ic=60A时Vcesat=2.5V,从而限制了导通损耗. FGL60N100BNTD中的内置快恢复二极管简化了电路设计,降低了元件数量.

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