标题:
TR-518系列ICT训练 (精品的说)连载!
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作者:
jsea
时间:
2004-6-25 17:35
C//R或L//R: 籍相位法辅助 |Y’|Sinθ=|Ycx|,即ωCx’Sinθ=ωCx 求得:Cx=Cx’Sinθ (Cx’=Ix’/2лfVs) |Y’|Sinθ=|Ycx|,即Sinθ/ωCx’ =1/ωCx 求得:Lx=Lx’/Sinθ (Lx’=Vs/2лfIx’) 3. 量测PN结:(D、Q、IC) 信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源, 量PN结导通电压 4. 量测Open/Short: 即以阻抗判定:先对待测板上所有Pin点 进行学习,R<25Ω即归为Short Group,然 后Test时进行比较,R<5Ω判定为Short, R>55Ω判为Open. 5. Guarding(隔离)的实现: 当Rx有旁路(R1)时, Ix=Is-I1≠Is, 故:Vx/Is≠Rx 此时取A点电位Va,送至C点,令 Vc=Va,则:I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 从而:Vx/Is=Rx
作者:
jsea
时间:
2004-6-25 17:37
程式的编写
1. 在T[测试]下,设定P“测试参数”
2. 在E[编辑]下,编写程式:
步骤 零件名 实际值 位置 高点 低点 隔点1 2 3 4 5 删略
量测值 标准值 上限% 下限% 延迟 信号 类别 重测 中停 补偿值 偏差%
1 R3 47K A1 21 101 0 0 0 0 0 0
47K 10 10 0 0 0 0 0 0 0
2 C22 100n D2 7 52 0 0 0 0 0 0
100n 30 30 0 0 0 0 0 0 0
3 L1 22u B2 1 87 0 0 0 0 0 0
22u 30 30 0 0 0 0 0 0 0
4 D5 0.7V C1 16 19 0 0 0 0 0 0
0.7V 20 20 0 0 0 0 0 0 0
作者:
jsea
时间:
2004-6-25 17:38
1. 进入L[学习],做Short Group学习.若有IC,还
需做IC Clamping Diode学习。
2. 在主画面下测试,检验程式及开始Debug。
程式的Debug
编写好的程式在实测时,因测试信号的选择,或被测元件线路影响,有些Step会Fail(即量测值超出±%限),必须经过Debug
R:在E[编辑]下,ALT-X查串联元件,ALT-P查
并联元件。据此选好“信号”(Mode)和串联
最少元件的Hi-P/Lo-P,并ALT-F7选择
Guarding Pin。
R//C:Mode2及Dly加大(参考:T=5RC)
R//D(or IC、Q):Mode1
R//R:Std-V取并联阻值
R//L:Mode3、4、5,根据Zl=2πfL,故L一
定时,若f越高,则Zl越大,则对R影响
越小
C:在[编缉]下一般根据电容值大小,选择相应的
Mode。如小电容(pF级),可选高频信号
(Mode2、3),大电容( nF级)可选低频信
号(Mode0、1),然后ALT-F7选择隔离。
3uF以上大电容,可以Mode4、8直流测试。
C//C:Std-V取并联容值
C//R:Mode5、6、7,由Zc=1/2лfC,故C一定
时,f越高,Zc越小,则R的影响越小。
C//L:Mode5、6、7,并且f越高效果越好。
L:F8测试,选择Mode0、1、2中测试值最接近
Std-V,然后Offset修正至准确。
L//R:Mode 5、6、7。
作者:
jsea
时间:
2004-6-25 17:40
PN结:F7自动调整,一般PN正向0.7V(Si),
反向(2V以上)。
D//C:Mode1及加Delay。
D//D(正向):除正向导通测试,还须测
反向截止(2V以上)以
免D反插时误判。
Zener:Nat-V选不低于Zener崩溃电压,
若仍无法测出崩溃电压,可选
Mode1(30mA),另外10-48V
zener管,可以HV模式测试
Q:be、bc之PN结电压两步测试可判断Q之类型
(PNP or NPN),Hi-P一样(NPN),Lo-P一
样(PNP),并可Debug ce饱和电压(0.2V以
下),注意Act-V为be偏置电压,越大Q越易进入
饱和,但须做ce反向判断(须为截止0.2V以上),
否则应调小Act-V。
不良报表的阅读
见图[upload=bmp]uploadImages/2004625174053.bmp[/upload]
作者:
jsea
时间:
2004-6-25 17:41
[upload=bmp]uploadImages/2004625174146.bmp[/upload] 以H0代有上限值(标准值,L0代表下限值): L1表示:量测值介于L0与L0-(H0-L0)10%之间 L2表示:量测值介于L1与L0-(H0-L0)20%之间 VL表示:量测值低于L2 H1表示:量测值介于H0与H0+(H0-L0)10%之间 H2表示:量测值介于H1与H0+(H0-L0)20%之间 VH表示:量测值高于H2 不良记录: ******Open Fail****** (48)(45 48)表示48点与短路组(45 48) 断开,可能是探针未接触到PCB焊盘,或板 上有断路。 ******Short Fail****** (20)(23)表示20点与23点短路(R<5Ω), 可能是板上有锡渣造成Short,装错零件造 成Short,零件脚过长造成Short等。 ******Component Fail****** 1 R3 M-V:52.06K,Dev:+10.7%,Act-V=47K Std-V=47K Loc:A1,Hi-P=21 L0-P=101 +LM: +10% -LM:-10% 表示:R3偏差+10.7%,可能为零件变值,或接 触不良。若偏差+999.9%或很大,可能为 缺件、错件超出标准值所在量程上限, (如47K在30K—300K量程内);若偏差 0.00%或很小,可能为短路,错件超出其 标准值所在量程下限。
作者:
jsea
时间:
2004-6-25 17:42
ICT误判分析
1. ICT无法测试部分:
⑴.记忆体IC(EPROM、SRAM、DRAM…)
⑵.并联大10倍以上大电容的小电容
⑶.并联小20倍以上小电阻的大电阻
⑷.单端点之线路断线
⑸.D//L,D无法量测
⑹.IC之功能测试
2. PCB之测点或过孔绿油未打开,或PCB吃锡不
好。
3. 压床压入量不足。探针压入量应以1/2-2/3为佳。
4.经过免洗制程的PCB板上松香致探针接触不良。
5.PCB板定位柱松动,造成探针触位偏离焊盘。
6.治具探针不良损坏。
7. 零件厂牌变化(可放宽+-%,IC可重新
Learning)。
8. 治具未Debug好(再进行Debug)。
9. ICT本身故障。
硬体检测
11. 开关板:诊断(D)----切换电路板(B)----系
统自我诊断(S)----切换电路板诊断
(S)。
若有B* C*表示SWB有Fail,请记录并
通知TRI。C*有可能为治具针点有Short造成。
12. 系统自我检测:
诊断(D)----硬体诊断(S)
----系统自我检测(S)
有R、D项Fail可能为DC板故障。
有C、L项Fail可能AC板Fail。
有Power 项Fail可能Power板Fail。
也请记录并通知TRI
作者:
jsea
时间:
2004-6-25 17:50
此文档为PPT,我上传到论坛FTP,想下的朋友去看看吧!
路径ftp://210.51.188.155/新建文件(2)/tr-518系列ict训练--by jsea.rar
作者:
zhangzzy
时间:
2004-6-25 20:00
怎么不能下载?能不能发到我的mail里边 zhangzzy@jettech.com.cn 谢谢!
作者:
spltrp
时间:
2004-11-12 08:51
我要可以吗?
SPLTRP@163.COM谢谢
作者:
kikozhong
时间:
2004-12-1 09:52
jase
没有密码呀
作者:
冰山来客
时间:
2004-12-6 16:41
仁兄:
能否给我来一份啊
keda001@126.com
先谢了!
作者:
KAKA_LI
时间:
2004-12-21 19:14
硬体检测
11. 开关板:诊断(D)----切换电路板(B)----系
统自我诊断(S)----切换电路板诊断
(S)。
若有B* C*表示SWB有Fail,请记录并
通知TRI。C*有可能为治具针点有Short造成。
不可能是探针的事!因为在硬体检测时治具不能和机台联接,如果是联接时硬体检测治具针点SHORT会把好的SWB也打死的!
作者:
jsea
时间:
2005-1-5 21:00
标题:
TR-518系列ICT训练 (精品的说)连载!
ICT概念
1. 何谓ICT?
ICT即在线测试仪(In Circuit Tester),是一大堆高级
电表的组合。电表能测到,ICT就能测到,电表测不
到,ICT可能也测不到。
2. ICT能测些什么?
Open/Short,R,L,C及PN结(含二极管,三极管,
Zener,IC)
3. ICT与电表有何差异?
ICT可对旁路元件进行隔离(Guarding),而电表
不可以。所以电表测不到,ICT可能测得到。
4. ICT与ATE有何差异?
ICT只做静态测试,而ATE可做动态测试。即ICT对
被测机板不通电(不加Vcc/GND),而ATE则通电。
ICT量测原理
1. 量测R:
单个R(mode0,1): 利用Vx=IsRx(欧姆定律),则
Rx=Vx/Is. 信号源Is取恒流
(0.1uA—5mA),量回Vx即可算
出Rx值.
R//C(mode2): 信号源Vs取恒压(0.2V),量回
Ix,则Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix,算出
Rx值.
R//L(mode3,4,5): 信号源取交流电压源Vs,籍
相位法辅助.
|Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并
|Y’|=I’x/Vs
故:Rx=1/|Y’|Cosθ
2. 量测C/L:
单个C/L(Mode0,1,2,3):信号源取恒定
交流压源Vs
Vs/Ix=Zc=1/2лfCx ,求
得:Cx=Ix/2лfVs
Vs/Ix=Zl=2лfLx ,
求得:Lx=Vs/2лfIx
(图不好粘贴,给省略了)
作者:
the980001
时间:
2005-1-5 21:00
我下到了,谢谢!
作者:
mzjlmiaogo
时间:
2005-6-26 13:20
能否也给我一份,TKS!miaogo20@21cn.com
作者:
welldone
时间:
2005-7-10 22:38
给我一份吧
jase
我的Email是tingting6848@yahoo.com.cn
作者:
welldone
时间:
2005-7-10 22:39
给我一份吧
jase
我的Email是tingting6848@yahoo.com.cn
作者:
wugongyao
时间:
2005-7-14 21:53
给我来一份wgy-192837@163.com
作者:
asdf258
时间:
2005-8-27 09:52
能否给我发一份啊,我正想学调试,我的email:uvwxyz369@163.com,谢谢啦
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