电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛

标题: [讨论]Lead Free 对测试的影响 [打印本页]

作者: neagle 时间: 2004-12-22 23:44

3.我觉得测试针有要大点,太小不好接触

作者: freedomwzq@163. 时间: 2005-1-10 20:23

1.可以在测试点和VIA孔加锡
2.加大探针弹力.

作者: Topsun12 时间: 2005-1-11 11:43

现在都有专门对应国内测试情况的探针，相应的增加了弹力！如QA，INGUN 等都有

作者: snowli 时间: 2005-1-11 15:29

Top兄:
100u针对零件脚,用10s还是12s好点?

作者: snowli 时间: 2005-1-22 16:08 标题: [讨论]Lead Free 对测试的影响

大家讨论一下,Lead Free 制程对测试的影响,我起一个头:
1:测试针需要用硬度稍大的,
2:所有转接卡和连接器也要用Lead Free的.
.......

作者: tuhui835 时间: 2005-1-22 16:08

增加弹力，STRAIN GAGE又有麻烦

欢迎光临电子技术论坛_中国专业的电子工程师学习交流社区-中电网技术论坛 (http://bbs.eccn.com/)