美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品,美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者,提供专业的光学薄膜设计,材质分析,椭圆偏振/分光光度测定软件。目前SCI的光学薄膜软件有:Film Wizard?,FilmMonitor?,FilmEllipse?
Film Wizard?
市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件,集成了优化系统和综合设计功能,强大的工具箱可以进行分光镜数据和偏振光谱分析,在软件中环境中根据真实的薄膜厚度,层次结构指标进行薄膜建模。该软件支持市面上通用的光度计和偏振器的数据输入,如果客户使用专用的光度计和偏振器,SCI公司免费可为客户量身定做专用数据输入文件系统。
应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。
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