最近做了个最小系统，CPU + PSRAM + Flash，为了解决抗扰性，总线上加了阻容滤波，我现在选用的是47pF电容和22欧姆电阻，总线频率60M，调试时发现一个问题，在测试内存时，个别内存单元会出错，其错误都有一个共同规律，那就是写入内存的数据马上读出后，两个数据不一致，再读一次后，数据一致。怀疑是负载电容匹配问题，去掉阻容滤波后，测试正常；增大电容或减少电容（10%左右），测试也正常，单独增大电阻到50欧姆，测试也正常，感到很奇怪，忘各位能否给个解释，早日走出迷雾，谢谢！！！

为什么要加“容”呢？地址线数据线每根线都对地接个小电容

内存测试一般建议的方法是：选个地址范围，从首地址依次向

每个存储单元写入数据，这个数据要有变化，比如00 01 02 03

之类吧，全部写完后在从首地址开始检查每个单元是不是保存

着写到这个地址的数据。

不建议写完一个存储单元之后立即就从这个单元读出判比。原

因是那些总线画到PCB板上后有“分布电容”，数据写出有可能

被记忆到数据线的分布电容里，立即就往回读，读回来的东西

可能是分布电容里记忆的。总之会影响到自检的结果。

不建议写完一个存储单元之后立即就从这个单元读出判比。原

因是那些总线画到PCB板上后有“分布电容”，数据写出有可能

被记忆到数据线的分布电容里，立即就往回读，读回来的东西

可能是分布电容里记忆的。总之会影响到自检的结果。