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标题: 大家讨论一下ICT 测试时容限的问题 [打印本页]

作者: 水手12345 时间: 2005-4-7 09:24 标题: 大家讨论一下ICT 测试时容限的问题

HP3070 debug analog test 时,当我们需要调整电阻,电容及电阻与电容串并联情况下的上下限时所依据的标准应该是什么?请大家发表一下意见.谢谢![em06]

作者: snowli 时间: 2005-4-7 17:20

先做个cpk,依据中间值去改

作者: 水手12345 时间: 2005-4-8 10:51

一般CPK值越大越稳定,但是CPK 值和调整上下限有具体关系吗?我们怎样通过中间值确定应设的上下限,请版主赐教.

作者: snowli 时间: 2005-4-8 13:21

做CPK主要是看他是否稳定,用MINTAB,算出中值,和幅宽,依据这个去改.

作者: liuxiyun 时间: 2006-1-20 00:40

这个还是不太明白

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