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手机静电测试

1)由ESD电流产生的热量导致设备的热失效

  2)由ESD感应出过高电压导致绝缘击穿。 两种破坏可能在一格设备中同时发生,例如,绝缘击穿可能激发大的电流,这又进一步导致热失效。

  除容易造成电路损害外,静电放电也是极易对电子电路造成干扰。静电放电对于电路的干扰有二种方式。 一种是传导干扰,另一种是辐射干扰。

  手机电路中需要进行MROESD防护的不部位有:SIM卡插作与CPU读电路,键盘电路,耳机,麦克风电路,电源接口,数据接口,USB接口,彩屏LCD驱动接口。
MRO4000-315-335
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