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单片机AD采样程序的设计方法

单片机AD采样程序的设计方法

单片机AD采样程序的设计方法

    通过采样某点的电压值,与预设定值作比较,得出下一步MCU该如何工作。例如:当检测到某点的电压,大于预设定值,则产生过压保护,通过单片机控制减小输入的电压值、断电、鸣叫,等一系列保护电路措施...

1.主函数:

void main(void)
{
  // USER CODE BEGIN (MAIN_Main,2)
   uword temp1=0,temp2=0,temp3=0,temp4=0;

   // USER CODE END

   MAIN_vInit();

   // USER CODE BEGIN (MAIN_Main,3)

   // USER CODE END

while(1)
{
   // USER CODE BEGIN (MAIN_Main,4)
   ADC_vStartSeqReqChNum(0,0,0,3);
   temp1=ADC_uwGetResultData0();
   temp1=temp1*10+24;
   temp1=temp1/48;
   temp2=temp1/10;
   temp3=temp1%10;
   temp4=temp2<<4|temp3;
   P3_DATA=temp4;
   // USER CODE END
}
} // End of main

2.ADC函数:

在检测到某点电压大于或小于与设定值,单片机产生中断,产生相应措施。

void ADC_vIsr(void) interrupt ADCINT
{

// USER CODE BEGIN (ADC_Isr,2)
uword i=0,j=0;
// USER CODE END

SFR_PAGE(_su0, SST0); // switch to page 0

// Check Interrupt Request 0 Flag
if (((IRCON1 & 0x08) != 0)) //判断中断0标志位是否置位
{
  IRCON1 &= ~(ubyte)0x08; // 置位了,清除该标志位, 为下次做准备
  // USER CODE BEGIN (ADC_Isr,3)
  for(i=0;i<1000;i++) //八个发光二极管间隔亮,延时时间约0.45s
  for(j=0;j<500;j++)
  P3_DATA=0xaa;
  for(i=0;i<1000;i++)
  for(j=0;j<500;j++)
  P3_DATA=0x55;
  // USER CODE END
}
// Check Interrupt Request 1 Flag
if (((IRCON1 & 0x10) != 0)) //判断中断1标志位是否置位
{
  IRCON1 &= ~(ubyte)0x10; //置位了,清除该标志位,为下次做准备
  // USER CODE BEGIN (ADC_Isr,4)
  for(i=0;i<1000;i++) //八个发光二极管高低半间隔亮,
  for(j=0;j<500;j++)
  P3_DATA=0xf0;
  for(i=0;i<1000;i++)
  for(j=0;j<500;j++)
  P3_DATA=0x0f;
  // USER CODE END
}


// USER CODE BEGIN (ADC_Isr,5)

// USER CODE END

SFR_PAGE(_su0, RST0); // restore the old SCU page
}
// End of ADC_vIsr
细节决定成败!
版主你好!
    想请教一个问题:AD程序写好后,调试运行可以完全在软件上进行吗?比如codewarrior,如果可以的话,怎么给输入信号呢?
    期待解答!
不可以  要结合硬件  要不然测试不出来
细节决定成败!
写程序的时候就要结合硬件,写成的程序可以直接在硬件上调试!根据需要进行调试!
嘻嘻,大概看的懂   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
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