TR-518系列ICT训练 (精品的说)连载! ICT, 精品, 连载, 训练

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C//R或L//R： 籍相位法辅助   |Y’|Sinθ=|Ycx|,即ωCx’Sinθ=ωCx 求得：Cx=Cx’Sinθ (Cx’=Ix’/2лfVs)   |Y’|Sinθ=|Ycx|,即Sinθ/ωCx’ =1/ωCx 求得：Lx=Lx’/Sinθ (Lx’=Vs/2лfIx’)       3.  量测PN结：（D、Q、IC） 信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源, 量PN结导通电压 4.   量测Open/Short： 即以阻抗判定：先对待测板上所有Pin点 进行学习,R<25Ω即归为Short Group，然 后Test时进行比较，R<5Ω判定为Short， R>55Ω判为Open. 5. Guarding(隔离)的实现： 当Rx有旁路（R1）时， Ix=Is-I1≠Is, 故：Vx/Is≠Rx 此时取A点电位Va,送至C点，令 Vc=Va,则：I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 从而：Vx/Is=Rx    

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程式的编写
1. 在T[测试]下，设定P“测试参数”
&nbsp;   2. 在E[编辑]下，编写程式：
  步骤  零件名  实际值   位置   高点  低点  隔点1      2      3      4        5      删略     
        量测值    标准值   上限%  下限%  延迟 信号 类别  重测 中停 补偿值 偏差%
     1     R3     47K    A1    21    101      0       0     0     0      0       0
                      47K    10    10      0     0     0       0      0      0        0
       2     C22   100n    D2     7      52      0       0     0   0      0       0
                        100n    30    30      0       0    0       0    0      0       0         
      3      L1      22u     B2     1     87      0       0      0     0      0      0
                       22u    30    30     0       0      0      0     0       0       0
       4      D5     0.7V    C1    16    19     0       0      0     0       0       0
                        0.7V    20    20    0      0      0      0     0       0       0

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1. 进入L[学习],做Short Group学习.若有IC，还
       需做IC Clamping Diode学习。
   2. 在主画面下测试，检验程式及开始Debug。
&nbsp;
程式的Debug
编写好的程式在实测时，因测试信号的选择，或被测元件线路影响，有些Step会Fail（即量测值超出±%限），必须经过Debug
R：在E[编辑]下，ALT-X查串联元件，ALT-P查
       并联元件。据此选好“信号”（Mode）和串联
       最少元件的Hi-P/Lo-P，并ALT-F7选择
        Guarding Pin。

       R//C：Mode2及Dly加大（参考：T=5RC）
       R//D（or IC、Q）：Mode1
       R//R：Std-V取并联阻值
       R//L：Mode3、4、5，根据Zl=2πfL，故L一
                  定时，若f越高，则Zl越大，则对R影响
                  越小
C：在[编缉]下一般根据电容值大小，选择相应的
       Mode。如小电容（pF级），可选高频信号
    （Mode2、3），大电容（ nF级）可选低频信
      号（Mode0、1），然后ALT-F7选择隔离。

      3uF以上大电容，可以Mode4、8直流测试。
      C//C：Std-V取并联容值
      C//R：Mode5、6、7，由Zc=1/2лfC,故C一定
                 时，f越高，Zc越小，则R的影响越小。
      C//L：Mode5、6、7，并且f越高效果越好。

L：F8测试，选择Mode0、1、2中测试值最接近
       Std-V，然后Offset修正至准确。

       L//R：Mode 5、6、7。

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PN结：F7自动调整，一般PN正向0.7V（Si），
             反向（2V以上）。

             D//C：Mode1及加Delay。
             D//D（正向）：除正向导通测试，还须测
                                         反向截止（2V以上）以
                                         免D反插时误判。
             Zener：Nat-V选不低于Zener崩溃电压，
                         若仍无法测出崩溃电压，可选
                          Mode1（30mA），另外10-48V
                          zener管，可以HV模式测试
Q：be、bc之PN结电压两步测试可判断Q之类型
    （PNP or NPN），Hi-P一样（NPN），Lo-P一
      样（PNP），并可Debug ce饱和电压(0.2V以
      下)，注意Act-V为be偏置电压,越大Q越易进入
      饱和，但须做ce反向判断(须为截止0.2V以上)，
      否则应调小Act-V。

不良报表的阅读
见图[upload=bmp]uploadImages/2004625174053.bmp[/upload]

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[upload=bmp]uploadImages/2004625174146.bmp[/upload] 以H0代有上限值（标准值，L0代表下限值）： L1表示：量测值介于L0与L0-（H0-L0）10%之间 L2表示：量测值介于L1与L0-（H0-L0）20%之间 VL表示：量测值低于L2 H1表示：量测值介于H0与H0+（H0-L0）10%之间 H2表示：量测值介于H1与H0+（H0-L0）20%之间 VH表示：量测值高于H2 不良记录： ******Open Fail****** （48）（45 48）表示48点与短路组（45 48） 断开，可能是探针未接触到PCB焊盘，或板 上有断路。 ******Short Fail****** （20）（23）表示20点与23点短路（R<5Ω）， 可能是板上有锡渣造成Short，装错零件造 成Short，零件脚过长造成Short等。 ******Component Fail****** 1     R3 M-V：52.06K，Dev：+10.7%，Act-V=47K Std-V=47K Loc:A1，Hi-P=21 L0-P=101 +LM： +10% -LM：-10% 表示：R3偏差+10.7%，可能为零件变值，或接 触不良。若偏差+999.9%或很大，可能为 缺件、错件超出标准值所在量程上限， （如47K在30K—300K量程内）；若偏差 0.00%或很小，可能为短路，错件超出其 标准值所在量程下限。

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ICT误判分析
1.  ICT无法测试部分：
     ⑴．记忆体IC（EPROM、SRAM、DRAM…）
     ⑵．并联大10倍以上大电容的小电容
     ⑶．并联小20倍以上小电阻的大电阻
     ⑷．单端点之线路断线
     ⑸．D//L，D无法量测
     ⑹．IC之功能测试

2.  PCB之测点或过孔绿油未打开，或PCB吃锡不
     好。
3.  压床压入量不足。探针压入量应以1/2-2/3为佳。
4．经过免洗制程的PCB板上松香致探针接触不良。
5．PCB板定位柱松动，造成探针触位偏离焊盘。
6．治具探针不良损坏。
7.   零件厂牌变化（可放宽+-%，IC可重新
       Learning）。
8.   治具未Debug好（再进行Debug）。
9.   ICT本身故障。

硬体检测
11. 开关板：诊断（D）----切换电路板（B）----系
                       统自我诊断（S）----切换电路板诊断
                    （S）。

                      若有B* C*表示SWB有Fail，请记录并
                      通知TRI。C*有可能为治具针点有Short造成。

12. 系统自我检测：
        诊断（D）----硬体诊断（S）
                           ----系统自我检测（S）
&nbsp;               
                              有R、D项Fail可能为DC板故障。
                              有C、L项Fail可能AC板Fail。
                              有Power 项Fail可能Power板Fail。
                              也请记录并通知TRI

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路径ftp://210.51.188.155/新建文件(2)/tr-518系列ict训练--by jsea.rar

zhangzzy

怎么不能下载？能不能发到我的mail里边 zhangzzy@jettech.com.cn 谢谢！

spltrp

我要可以吗?
SPLTRP@163.COM谢谢

kikozhong

jase

   没有密码呀

冰山来客

仁兄:
能否给我来一份啊
keda001@126.com
先谢了!

KAKA_LI

硬体检测
11. 开关板：诊断（D）----切换电路板（B）----系
统自我诊断（S）----切换电路板诊断
（S）。

若有B* C*表示SWB有Fail，请记录并
通知TRI。C*有可能为治具针点有Short造成。
不可能是探针的事！因为在硬体检测时治具不能和机台联接，如果是联接时硬体检测治具针点SHORT会把好的SWB也打死的！

jsea

ICT概念
  1.&nbsp; 何谓ICT？
      ICT即在线测试仪（In Circuit Tester）,是一大堆高级
     电表的组合。电表能测到，ICT就能测到，电表测不
     到，ICT可能也测不到。
  2.&nbsp; ICT能测些什么？
       Open/Short,R,L,C及PN结（含二极管，三极管，
       Zener，IC）
  3.&nbsp; ICT与电表有何差异？
      ICT可对旁路元件进行隔离（Guarding），而电表
      不可以。所以电表测不到，ICT可能测得到。
  4.&nbsp; ICT与ATE有何差异？
      ICT只做静态测试，而ATE可做动态测试。即ICT对
      被测机板不通电（不加Vcc/GND），而ATE则通电。

ICT量测原理
1.&nbsp;&nbsp; 量测R：
          单个R(mode0,1):       利用Vx=IsRx（欧姆定律），则
                                              Rx=Vx/Is.   信号源Is取恒流
                                             （0.1uA—5mA）,量回Vx即可算
                                               出Rx值.
&nbsp;
&nbsp;
           R//C(mode2):          信号源Vs取恒压（0.2V），量回
                                            Ix，则Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出
                                            Rx值.

&nbsp;R//L(mode3,4,5):       信号源取交流电压源Vs，籍
                                      相位法辅助.
                                       |Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并
                                       |Y’|=I’x/Vs
                                      故：Rx=1/|Y’|Cosθ


2.&nbsp;&nbsp;量测C/L：   
          单个C/L（Mode0,1,2,3）：信号源取恒定
                                               交流压源Vs
                                                  Vs/Ix=Zc=1/2лfCx ,求
                                               得：Cx=Ix/2лfVs
                 
                                                Vs/Ix=Zl=2лfLx ,
                                                 求得：Lx=Vs/2лfIx

(图不好粘贴，给省略了)


&nbsp;

the980001

我下到了，谢谢！

mzjlmiaogo

能否也给我一份，TKS！miaogo20@21cn.com