[转帖]DFT注意事项小结 DFT, 小结, 事项, 转帖

looksky

为了提高芯片成品率，DFT在ASIC设计中已经越来越流行了，使设计的测试覆盖率尽可能高是我们追求的目标。
在上一个项目中，我们碰到了很多这方面的问题，走了很多弯路，帮经验共享出来给版上的兄弟们。

1.在ATPG测试模式下，一定要确保所有触发器的时钟和异步复位置位来自原始输入端口。这个很重要，很多warning就是这么产生的。所谓在ATPG测试模式，就是测试端口信号值是你所指定的值的情况。以下为要特别注意的情况，我们也犯了里面大多数的错误。
要用测试端口信号旁路内部时钟分频器；
要用测试端口信号旁路门控时钟；
要用测试端口信号旁路内部PLL；

2.在ATPG测试模式下，尽量阻断时钟，异步复位置位到触发器输入端的路径，即信号不可既做时钟又做数据。显然，这容易造成测试覆盖率的降低。但有些情况是不可避免，尽量降低而已：）

3.对多驱动线网来说，确保ATPG测试模式下有且只有一个驱动有效，这样就不会造成总线竞争和浮动。

4.在ATPG测试模式下，让所有扫描链输出端口仅为输出模式。

5.在不同时钟源的FFs之间插入同步Latches，避免扫描移位时出错。这些DFT COMPILER会帮我们自动做到。
6.避免使用时钟异或反向技巧，以免时序问题。

7.作为扫描链的输入端口，尽量选择那种端口信号一进来就直接进入FF的；作为扫描链的输出端口，尽量选择那种端口信号直接从FF出来的。

暂时就这些了，有什么疑问大家欢迎提问，我当时在这里困惑了很久，后来搞通了感觉好明白啊～
想写点DFT的工作原理，但DC的manual里面都有了，也不知道有没必要，估计这种资料别的地方也有吧，不过当时自己真是理解了不少时间啊～～～

looksky

此帖为跟帖：


1。对于第一点认同，如果没有set_test_hold PATTERN不能生成，所以说应该是必须的。
2。这样做是否还有一个好处，在shift mode时 信号输入时稳定的？而不会随着时钟变化而变化。
3。多驱动网线指得是？我自己认为要尽可能少的干预源代码，这样测试覆盖率才会高，所以第三条没有理解。
4。这个不需要，同时这样做降低测试覆盖率。因为如果是双向的话，要作为PI用（自己理解不一定准确）
7。因为可以hookup所以可能也能达到同样效果！

HolySaint

7。因为可以hookup所以可能也能达到同样效果！

你的意思时hook到pad上吗？