最近在工作中碰到这样一个问题：
一个机种新换上去的时候，其它都无异常，但在未上电的Aanlog in circuit testing中，
会出现一大片的电容测试不过，测试值极低，为0或负值(单位pf)。
这些电容有二个共性。
一： 所有这些电容其s bus or i bus or g bus 至少有一个以上gnd 点。
二： 所有这些电容都是pf级，且都有comp 参数。
我百试它法，就是不能测试过这些电容。
目前仅有一法能对付，那就是 testhead power off,then boot .
不过boot 一次要三四分钟太慢，而且我弄不清这种情况发生是因为什么原因。
我的想法是，会不会哪片card，其上的relay （这个relay 应该是连gnd ）
本来应该可以关上的，可能换一下机种，使它关不上，成常开状态。
而 power off 一下，使其掉电，所以boot 后就好了呢。
不过这样想我还是有疑问：为什么是所有带comp参数的电容呢？
为什么其它s bus ,i bus 为gnd 的r ,l元件不会出现这种情况。
希望各位大侠能指点指点
[此贴子已经被作者于2006-7-29 23:10:17编辑过]
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